[实用新型]上探针式接触测试装置

摘要

本实用新型提供一种上探针式接触测试装置，以解决在现有接触测试装置中，无法使探针始终处于准确位置，并且容易使测试架台发生倾斜的问题。本实用新型由测试架台、导轨、气缸、基座、XY调整台、测试基座、探针、治具、限位器与限位块构成，探针与治具依次安装在测试基座上，测试基座安装在测试架台上，测试架台安装在导轨上，气缸、导轨与限位器均是安装在基座上，基座安装在XY调整台上，气缸与测试架台相连接，限位块安装在测试架台上。本实用新型可进行XY方向的精确位移调整，使探针可以处于准确位置，当气缸推动测试架台向上沿导轨运动时，可确保运动路线与水平面始终保持垂直状态，避免发生倾斜。

主权项

一种上探针式接触测试装置，其特征在于，由测试架台、导轨、气缸、基座、XY调整台、测试基座、探针、治具、限位器与限位块构成，所述探针与所述治具依次安装在所述测试基座上，所述测试基座安装在所述测试架台上，所述测试架台安装在所述导轨上，所述气缸、所述导轨与所述限位器均是安装在所述基座上，所述基座安装在所述XY调整台上，所述气缸与所述测试架台相连接，所述限位块安装在所述测试架台上。