[实用新型]上探针式接触测试装置有效

专利信息
申请号: 201420344356.2 申请日: 2014-06-23
公开(公告)号: CN203981724U 公开(公告)日: 2014-12-03
发明(设计)人: 刘卫华 申请(专利权)人: 北京盈和工控技术有限公司
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067
代理公司: 代理人:
地址: 100037 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 探针 接触 测试 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种接触测试装置,尤其是一种上探针式接触测试装置。

背景技术

目前,由于现有的接触测试装置只能进行单一方向的位移调整,因此,在使用过程中,无法使探针始终处于准确位置,并且容易使测试架台发生倾斜。

发明内容

针对上述问题中存在的不足之处,本实用新型提供一种可进行XY方向的精确位移调整,使探针可以处于准确位置的上探针式接触测试装置。

为实现上述目的,本实用新型提供一种上探针式接触测试装置,由测试架台、导轨、气缸、基座、XY调整台、测试基座、探针、治具、限位器与限位块构成,所述探针与所述治具依次安装在所述测试基座上,所述测试基座安装在所述测试架台上,所述测试架台安装在所述导轨上,所述气缸、所述导轨与所述限位器均是安装在所述基座上,所述基座安装在所述XY调整台上,所述气缸与所述测试架台相连接,所述限位块安装在所述测试架台上。

与现有技术相比,本实用新型具有以下优点:

本实用新型可进行XY方向的精确位移调整,使探针可以处于准确位置,当气缸推动测试架台向上沿导轨运动时,可确保运动路线与水平面始终保持垂直状态,避免发生倾斜;

通过XY调整台可使本实用新型进行在横向及纵向上进行位置调整。

附图说明

图1为本实用新型的立体图;

图2为图1的侧视图;

图3为图1的另一侧视图;

图4为本实用新型的俯视图。

主要附图标记说明如下:

1-测试架台  2-导轨  3-气缸

4-基座    5-XY调整台 6-测试基座

7-探针    8-治具       9-限位器

10-限位块

具体实施方式

如图1所示,本实用新型由测试架台1、导轨2、气缸3、基座4、XY调整台5、测试基座6、探针7、治具8、限位器9与限位块10构成,其中,探针安装在治具上,治具安装在测试基座上,测试基座安装在测试架台上,测试架台安装在导轨上,导轨、气缸与限位器均是安装在基座上,基座安装在XY调整台上,气缸与测试架台相连接,限位块安装在测试架台上。

本实用新型在工作时:气缸推动测试架台沿导轨方向向上运动,测试架台上的测试基座、治具及探针同时向上移动。当测试架台上的限位块触碰到基座上限位器时停止向上运动。

气缸在收回时,使测试架台、与安装在其上的测试基座、治具以及探针向下回到原位。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例,对发明而言仅仅是说明性的,而非限制性的。本专业技术人员理解,在发明权利要求所限定的精神和范围内可对其进行许多改变,修改,甚至等效,但都将落入本实用新型的保护范围内。

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