[实用新型]微粒测定装置有效

专利信息
申请号: 201420309443.4 申请日: 2014-06-11
公开(公告)号: CN204536159U 公开(公告)日: 2015-08-05
发明(设计)人: 加茂友规 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: G01N15/06 分类号: G01N15/06
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 权鲜枝
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 为了实现小型并且廉价的微粒测定装置,在微粒测定装置(10)中,1个风扇(4)产生从导入流路(5a)通过分支部(A)分别朝向主流路(5b)和支流路(5c)的末端的气流,传感器(1)设于支流路(5c)的中途,导入流路(5a)、主流路(5b)和风扇(4)按相同方向排列设置。
搜索关键词: 微粒 测定 装置
【主权项】:
一种微粒测定装置,其特征在于,具备:导入流路,其从外部导入气体;主流路和支流路,它们在导入流路的与外部相反的一侧的末端处的分支部分支;1个流体驱动部,其产生从上述导入流路通过上述分支部朝向上述主流路和上述支流路各自的作为与上述分支部相反的一侧的末端的出口的气流;以及测定部,其设于上述支流路的中途,测定气体中的微粒,在上述分支部,上述主流路向与上述导入流路中的气流方向相同的方向延伸,上述支流路向与上述导入流路中的气流方向相反的方向延伸,上述导入流路、上述主流路和上述流体驱动部按相同方向排列设置。
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