[实用新型]一种非致冷半导体激光器的老化测试系统有效
| 申请号： | 201420001637.8 | 申请日： | 2014-01-02 |
| 公开（公告）号： | CN203643537U | 公开（公告）日： | 2014-06-11 |
| 发明（设计）人： | 崔琳;张彩 | 申请（专利权）人： | 大连藏龙光电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01M11/00 |
| 代理公司： | 大连博晟专利代理事务所(特殊普通合伙) 21236 | 代理人： | 于忠晶 |
| 地址： | 116000 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 一种非致冷半导体激光器的老化测试系统，所述测试接口板与控制板连接，所述控制板的输出端与显示器连接；所述控制板包括ADC芯片，MCU控制器和为非制冷半导体激光器供电的可调驱动电路，所述测试接口板与所述可调驱动电路连接，所述ADC芯片采集所述可调驱动电路的电压信号，并转为数字信号传递到MCU控制器的输入端，所述MCU控制器将所述数字信号进行处理并通过输出端与显示器连接。本实用新型是为了提高非制冷半导激光器的可靠性和稳定性而设计的一种老化测试系统。在高100℃环境下，通过上电老化测试，给非制冷半导体激光器提供一个稳定的受控电流，并实时监测激光器的实际工作电流，以达到可靠性筛选的目的，将早期失效产品滤除。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 致冷 半导体激光器 老化 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种非致冷半导体激光器的老化测试系统，包括用于放置待测激光器的测试接口板，用于为所述测试板驱动供电的控制板及用于显示测试结果的显示器，其特征在于，所述测试接口板与控制板连接，所述控制板的输出端与显示器连接；所述控制板包括ADC芯片，MCU控制器和为非制冷半导体激光器供电的可调驱动电路，所述驱动电路包括电流检测放大器芯片、运算放大器和三极管，所述测试接口板与所述可调驱动电路的电流检测放大器芯片连接，所述ADC芯片采集所述电流检测放大器输出的电压信号，并转为数字信号传递到MCU控制器的输入端，所述 MCU控制器将所述数字信号进行处理并通过输出端与显示器连接。
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