[发明专利]一种量化评估安全芯片安全性的方法及系统有效
申请号: | 201410856616.9 | 申请日: | 2014-12-31 |
公开(公告)号: | CN104881618B | 公开(公告)日: | 2018-11-13 |
发明(设计)人: | 邵翠萍;李慧云;周剑彬;徐国卿;李大为;罗鹏 | 申请(专利权)人: | 中国科学院深圳先进技术研究院;国家密码管理局商用密码检测中心 |
主分类号: | G06F21/77 | 分类号: | G06F21/77 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 穆瑞丹 |
地址: | 518055 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
本发明提供了一种量化评估安全芯片安全性的方法及系统,通过对待评估安全芯片进行错误注入攻击,以确定安全芯片在空间上的易受错误注入攻击的敏感点,再对敏感点进行错误注入攻击,确定每个敏感点易受错误注入攻击的敏感时间长度,之后确定安全芯片在时间、空间上的敏感区域 |
||
搜索关键词: | 安全芯片 量化评估 敏感 攻击 敏感区域 正整数 解密 评估 | ||
【主权项】:
1.一种量化评估安全芯片安全性的方法,其特征在于,包括:对待评估安全芯片进行错误注入攻击,以确定所述安全芯片在空间上的易受错误注入攻击的敏感点,其中所述敏感点具有面积s,所述面积s是错误注入攻击的面积;对所述敏感点进行错误注入攻击,确定每个所述敏感点易受错误注入攻击的敏感时间长度;确定所述安全芯片在时间、空间上的敏感区域
其中n表示所述敏感点的个数,t(i)表示第i个敏感点的敏感时间长度,i为正整数;根据所述安全芯片的总面积、所述安全芯片完成一次加/解密所需要的总时间以及所述安全芯片在时间、空间上的敏感区域,对所述安全芯片的安全性进行量化评估。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院深圳先进技术研究院;国家密码管理局商用密码检测中心,未经中国科学院深圳先进技术研究院;国家密码管理局商用密码检测中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410856616.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种应用于智能音箱的音乐播放方法及智能音箱
- 下一篇:一种扑克牌自动洗牌盒