[发明专利]一种量化评估安全芯片安全性的方法及系统有效

专利信息
申请号: 201410856616.9 申请日: 2014-12-31
公开(公告)号: CN104881618B 公开(公告)日: 2018-11-13
发明(设计)人: 邵翠萍;李慧云;周剑彬;徐国卿;李大为;罗鹏 申请(专利权)人: 中国科学院深圳先进技术研究院;国家密码管理局商用密码检测中心
主分类号: G06F21/77 分类号: G06F21/77
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 穆瑞丹
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种量化评估安全芯片安全性的方法及系统,通过对待评估安全芯片进行错误注入攻击,以确定安全芯片在空间上的易受错误注入攻击的敏感点,再对敏感点进行错误注入攻击,确定每个敏感点易受错误注入攻击的敏感时间长度,之后确定安全芯片在时间、空间上的敏感区域其中n表示所述敏感点的个数,t(i)表示第i个敏感点的敏感时间长度,i为正整数,最后根据安全芯片的总面积、安全芯片完成一次加/解密所需要的总时间以及安全芯片在时间、空间上的敏感区域,对安全芯片的安全性进行量化评估。因此,根据本发明实施例的量化评估安全芯片安全性的方法及系统,能够在空间和时间上对安全芯片的安全性进行量化评估。
搜索关键词: 安全芯片 量化评估 敏感 攻击 敏感区域 正整数 解密 评估
【主权项】:
1.一种量化评估安全芯片安全性的方法,其特征在于,包括:对待评估安全芯片进行错误注入攻击,以确定所述安全芯片在空间上的易受错误注入攻击的敏感点,其中所述敏感点具有面积s,所述面积s是错误注入攻击的面积;对所述敏感点进行错误注入攻击,确定每个所述敏感点易受错误注入攻击的敏感时间长度;确定所述安全芯片在时间、空间上的敏感区域其中n表示所述敏感点的个数,t(i)表示第i个敏感点的敏感时间长度,i为正整数;根据所述安全芯片的总面积、所述安全芯片完成一次加/解密所需要的总时间以及所述安全芯片在时间、空间上的敏感区域,对所述安全芯片的安全性进行量化评估。
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