[发明专利]能控制TSV深孔镀铜结晶及生长方式的添加剂B及其用途在审

专利信息
申请号: 201410848603.7 申请日: 2014-12-31
公开(公告)号: CN104532309A 公开(公告)日: 2015-04-22
发明(设计)人: 王溯;于仙仙 申请(专利权)人: 上海新阳半导体材料股份有限公司
主分类号: C25D3/38 分类号: C25D3/38
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 贾慧琴
地址: 201616 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了能控制TSV深孔镀铜结晶及生长方式的添加剂B及其用途;该添加剂B包含按质量百分比计的以下原料:1%-10%的分子量在200-20,000之间的聚乙二醇和聚乙烯醇其中之一或其不同分子量的混合物;0.01%-10%的EO-PO-EO-季胺化合物;0.1-5%的巯基咪唑类化合物;0.1-10%的聚乙烯亚胺及其衍生物;余量为水。本发明提供的添加剂B,可以改变TSV深孔电镀填铜方式,进而改变铜的结晶形态,从而实现TSV微孔的无缺陷沿孔微凸的填充,有效控制铜的结晶形貌及孔口生长方式,降低面铜厚度、TSV深孔孔口微凸起,从而减轻后续CMP制程的压力,降低后续制程成本,大大提高了良率及生产效率。
搜索关键词: 控制 tsv 镀铜 结晶 生长 方式 添加剂 及其 用途
【主权项】:
一种能控制TSV深孔镀铜结晶及生长方式的添加剂B,其特征在于,该添加剂B包含按质量百分比计的以下原料:1%‑10%的分子量在200‑20,000之间的聚乙二醇和聚乙烯醇其中之一或其不同分子量的混合物;0.01%‑10%的EO‑PO‑EO‑季胺化合物;0.1‑5%的巯基咪唑类化合物;0.1‑10%的聚乙烯亚胺及其衍生物;余量为水。
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