[发明专利]一种积分式闭环光纤陀螺的测试方法有效
| 申请号： | 201410812299.0 | 申请日： | 2014-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN105758422B | 公开（公告）日： | 2018-08-17 |
| 发明（设计）人： | 李阳;鲁浩;卢丽勇;虞翔 | 申请（专利权）人： | 上海亨通光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 宣慧兰 |
| 地址： | 200436 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明一种积分式闭环光纤陀螺的测试方法，用以测试闭环光纤陀螺在不同环境下的综合性能指标，包括以下步骤：1)根据通用的测试方法获得待测闭环光纤陀螺的标度因数K和零偏值B0；2)在不同的测试环境下分别对待测闭环光纤陀螺进行测试，包括静态方位变化测试、动态方位变化测试、高低温环境方位变化测试和力学环境方位变化测试；3)3)对不同测试环境下的闭环光纤陀螺的输出量Nt在一定的测量时间段t内进行积分计算，得到待测闭环光纤陀螺的方位值F；4)根据不同测试环境下积分得到的方位值，对待测闭环光纤陀螺的性能进行判定。与现有技术相比，本发明具有实用价值高、成本低等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 积分 闭环 光纤 陀螺 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种积分式闭环光纤陀螺的测试方法，用以测试闭环光纤陀螺在不同环境下的的综合性能指标，其特征在于，包括以下步骤：1)根据通用的测试方法获得待测闭环光纤陀螺的标度因数K和零偏值B0；2)在不同的测试环境下分别对待测闭环光纤陀螺进行测试，包括静态方位变化测试、动态方位变化测试、高低温环境方位变化测试和力学环境方位变化测试；3)对不同测试环境下的闭环光纤陀螺的输出量Nt在一定的测量时间段t内按照公式![]()
进行积分计算，得到待测闭环光纤陀螺的方位值F，其中，Ωe为地球自转角速率，![]()
为测试当地的纬度，t为测量时间段；4)根据不同测试环境下积分得到的方位值，对待测闭环光纤陀螺的性能进行判定。
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