[发明专利]基于金属纳米粒子增强荧光的干式免疫层析分析方法

摘要

本发明公开了一种基于金属纳米粒子增强荧光的干式免疫层析分析方法。本发明基于金属纳米粒子增强荧光的干式免疫层析分析方法，以金属纳米粒子代替聚苯乙烯等微球载体，并在距金属纳米粒子表面5～20nm处有荧光物质，金属纳米粒子表面5～20nm处的荧光物质最大吸收峰和金属表面等离子体最大吸收峰耦合共振，通过表面等离子体振荡和电磁场剪裁效应，产生比自由态的荧光发射强度有显著增强的荧光发射。本发明方法应用在干式免疫层析试纸条中，具有操作简单，检测快速准确、特异性强、灵敏度高的优势。

主权项

基于金属纳米粒子增强荧光的干式免疫层析分析方法，其特征在于包括：(I)夹心法：利用有机大分子或无机材料在金属纳米粒子表面形成5～20nm隔离层，将能够与待测分子特异性结合的探测分子连接到金属纳米粒子或隔离层表面，再标记上荧光物质，形成荧光物质距离金属纳米粒子表面的距离为5～20nm的荧光致敏金属纳米粒子复合物，将能够与待测分子特异性结合的捕获分子包被在硝酸纤维素膜检测线上，将荧光致敏金属纳米粒子复合物均匀分布于样品垫上，滴加样本后荧光致敏金属纳米粒子复合物随液体层析，荧光致敏金属纳米粒子和待测分子结合形成荧光致敏金属纳米粒子～待测分子复合物，最后复合物被捕获分子结合层析结束，在检测线上形成荧光致敏金属纳米粒子～待测分子～捕获分子复合物，此时复合物上荧光物质最大吸收峰和金属表面等离子体最大吸收峰耦合共振，通过表面等离子体振荡和电磁场剪裁效应，产生比自由态的荧光发射强度有显著增强的荧光发射，用荧光免疫定量分析仪检测荧光强度，进而回算待测样本中的目标分析物的浓度；或者是将能够与待测分子特异性结合的捕获分子连接到金属纳米粒子表面后包被在硝酸纤维素膜检测线上，检测分子标记上荧光物质，均匀分布于样品垫上，滴加样本后荧光检测分子复合物随液体层析，荧光检测分子和待测分子结合形成复合物，最后复合物被金属纳米粒子上捕获分子捕获，在检测线上形成荧光探测分子～待测分子～捕获分子～金属纳米粒子复合物，此时荧光物质距离金属纳米粒子表面距离正好位于其等离子体共振距离范围内，荧光物质最大吸收峰和致敏金属纳米粒子表面等离子体最大吸收峰耦合共振，通过表面等离子体振荡和电磁场剪裁效应，产生比自由态的荧光发射强度有显著增强的荧光发射，用荧光免疫定量分析仪检测荧光强度进而回算待测样本中的目标分析物的浓度；(II)竞争法：利用有机大分子或无机材料在金属纳米粒子表面形成5～20nm隔离层，将能够与待测分子特异性结合的探测分子连接到金属纳米粒子或隔离层表面，再标记上荧光物质，形成荧光物质距离金属纳米粒子表面的距离为5～20nm具有荧光标记效果的致敏金属纳米粒子复合物，将能够与待测分子竞争性结合致敏纳米金属粒子的竞争分子包被在硝酸纤维素膜检测线上，滴加样本后荧光致敏金属纳米粒子复合物随液体层析，硝酸纤维素膜上的竞争分子与待测分子将竞争结合金属纳米粒子，待测分子浓度越低，金属纳米粒子的荧光强度越强，反之则越弱，此时竞争分子上荧光物质最大吸收峰和致敏金属纳米粒子表面等离子体最大吸收峰耦合共振，通过表面等离子体振荡和电磁场剪裁效应，产生比自由态的荧光发射强度有显著增强的荧光发射，用荧光免疫定量分析仪检测荧光强度进而回算待测样本中的目标分析物的浓度；或者是将能够与待测分子特异性结合的捕获分子连接到金属纳米粒子表面后包被在硝酸纤维素膜检测线上，能够和待测分子竞争性结合捕获分子的竞争分子标记上荧光物质，均匀分布于样品垫上，滴加样本后荧光竞争分子随液体层析，荧光竞争分子和待测分子竞争结合捕获分子，此时待测分子浓度越低，金属纳米粒子的荧光强度越强，反之则越弱，此时荧光物质距离金属纳米粒子表面距离正好位于其等离子体共振距离范围内，荧光物质最大吸收峰和致敏金属纳米粒子表面等离子体最大吸收峰耦合共振，通过表面等离子体振荡和电磁场剪裁效应，产生比自由态的荧光发射强度有显著增强的荧光发射，用荧光免疫定量分析仪检测荧光强度进而回算待测样本中的目标分析物的浓度。