[发明专利]一种可变存储器校验的方法及系统有效
| 申请号： | 201410793825.3 | 申请日： | 2014-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN104407929B | 公开（公告）日： | 2017-10-24 |
| 发明（设计）人： | 吕鹏勃;艾军 | 申请（专利权）人： | 重庆川仪自动化股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 北京信远达知识产权代理事务所(普通合伙)11304 | 代理人： | 魏晓波 |
| 地址： | 400700*** | 国省代码： | 重庆;85 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种可变存储器校验的方法，包括获取存储区域校验单元首地址和对应数据；对当前校验单元之前的所有单元进行CRC校验，返回第一个CRC校验值；对之后的所有单元进行CRC校验，返回第二个CRC校验值；对当前数据位进行走步操作；对之前的所有单元进行CRC校验，返回第三个CRC校验值；对之后的所有单元进行CRC校验，返回第四个CRC校验值；当第一个CRC校验值和第三个CRC校验值一致时，比较第二个CRC校验值和第四个CRC校验值，当一致时，对下一位进行走步操作，直到所有数据位均校验完毕；恢复当前校验单元的数据，能够检测出存储单元之间的串扰，达到高有效诊断覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 可变 存储器 校验 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种可变存储器校验的方法，其特征在于，该方法包括：获取目标存储区域中当前校验单元的首地址和对应的数据；存储所述目标存储区域中当前校验单元的首地址和对应的数据；对所述当前校验单元之前的所有单元进行CRC校验，返回第一个CRC校验值；对所述当前校验单元之后的所有单元进行CRC校验，返回第二个CRC校验值；对所述当前校验单元中的当前数据位进行走步操作；对所述当前校验单元之前的所有单元进行CRC校验，返回第三个CRC校验值；对所述当前校验单元之后的所有单元进行CRC校验，返回第四个CRC校验值；比较所述第一个CRC校验值和所述第三个CRC校验值，当所述第一个CRC校验值和所述第三个CRC校验值一致时，比较所述第二个CRC校验值和所述第四个CRC校验值，当所述第二个CRC校验值和所述第四个CRC校验值一致时，对所述当前数据位的下一位进行走步操作，依次执行所述校验操作和所述比较操作，直到所述当前校验单元中的所有数据位均校验完毕；根据所述存储的当前校验单元的首地址，将所述存储的当前校验单元的数据重新保存到所述当前校验单元中；按照上述的方法依次校验所述目标存储区域中的所有校验单元。
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