[发明专利]光波导型测定系统在审
| 申请号： | 201410785111.8 | 申请日： | 2014-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN104729993A | 公开（公告）日： | 2015-06-24 |
| 发明（设计）人： | 葛西晋吾 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G01N21/00 | 分类号： | G01N21/00;G01N21/17;G01N21/31;G01N33/543 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 徐冰冰;刘杰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种光波导型测定系统，具有光波导、磁性微粒、第一磁场施加部、第二磁场施加部以及控制部。在光波导中，在表面固定与测定对象物质特异性结合的第一物质。在磁性微粒上，固定与上述测定对象物质特异性结合的第二物质。第一磁场施加部生成用于使上述磁性微粒向从上述光波导离开的方向移动的磁场。第二磁场施加部生成用于使上述磁性微粒向接近上述光波导的方向移动的磁场。在通过上述第二磁场施加部施加磁场的状态下，控制部控制上述第一磁场施加部以间歇地施加磁场。 | ||
| 搜索关键词： | 波导 测定 系统 | ||
【主权项】：
一种光波导型测定系统，其特征在于，具备：光波导，与测定对象物质特异性结合的第一物质固定于该光波导的表面；磁性微粒，固定有与上述测定对象物质特异性结合的第二物质，具有磁性；第一磁场施加部，生成用于使上述磁性微粒向从上述光波导离开的方向移动的磁场；第二磁场施加部，生成用于使上述磁性微粒向接近上述光波导的方向移动的磁场；以及控制部，在通过上述第二磁场施加部施加磁场的状态下，控制上述第一磁场施加部以间歇地施加磁场。
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