[发明专利]热敏电阻线性化校正方法及装置在审

专利信息
申请号: 201410782193.0 申请日: 2015-08-03
公开(公告)号: CN104505202A 公开(公告)日: 2015-07-29
发明(设计)人: 刘君;嵇世卿 申请(专利权)人: 深圳市宝安任达电器实业有限公司
主分类号: H01C7/02 分类号: H01C7/02;H01C7/04
代理公司: 深圳市精英专利事务所 44242 代理人: 任哲夫
地址: 518000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种热敏电阻线性化校正方法及装置,通过在校正过程中不仅提供了理论并联电阻阻值参考得到实际并联阻值集合,进一步的通过一个二元一次函数对其进行拟合,从而得到一个并联阻值集合与温度之间的线性关系的直线,在通过最终误差检测后将选择阻值的电阻并联在热敏电阻上,而将拟合的线性函数存储在控制器中,由于线性函数优于指数计算的特性,降低了运行硬件的需求,执行效率更高,满足了实时性的需求。
搜索关键词: 热敏电阻 线性化 校正 方法 装置
【主权项】:
一种热敏电阻线性化校正方法,其特征在于:包括步骤,A)设定最低温度T1及最高温度T3,定义检测温度范围T为(T1‑T3);B)获取热敏电阻在温度范围内所有阻值集合R;获取最低温度时热敏电阻的阻值RT1;获取中间温度时热敏电阻的阻值RT2;获取最高温度时热敏电阻的阻值RT3;C)根据公式计算得到理论并联电阻阻值R1’;D)获取实际可用的并联电阻阻值R1;E)计算得到热敏电阻与并联电阻并联后的并联阻值集合R=R1/(1+R1/R);F)以二元一次函数y=kx+b拟合并联阻值集合;G)计算并联阻值集合R与二元一次函数y=kx+b的误差集合;H)判断误差集合是否超标,是则执行步骤I,否则执行步骤J;I)改变并联电阻阻值R1,返回步骤D;J)将并联电阻值R1的电阻并联接于热敏电阻上使用,并将拟合的二元一次函数存入控制器中。
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