[发明专利]X射线分析用试样保持器及试样设置用夹具在审
| 申请号： | 201410749791.8 | 申请日： | 2014-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN104849128A | 公开（公告）日： | 2015-08-19 |
| 发明（设计）人： | 竹内俊公 | 申请（专利权）人： | 日本株式会社日立高新技术科学 |
| 主分类号： | G01N1/36 | 分类号： | G01N1/36 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 朱美红;李婷 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种能够消除试样的偏移并使试样与X射线管的距离为一定、进而能够对应于各种各样的形状的试样的X射线分析用试样保持器及在将试样向该保持器安设时使用的试样设置用夹具。具备第1环状部件（3）、第2环状部件（4）和第3环状部件（5）；所述第2环状部件（4）在与第1环状部件之间夹着第1薄膜（F1）的状态下嵌入插入在第1环状部件内，将下部开口部覆盖而张设第1薄膜；所述第3环状部件（5）在与第2环状部件之间夹着第2薄膜（F2）的状态下嵌入插入在第2环状部件内，将下部开口部覆盖而张设第2薄膜；用在第2环状部件和第3环状部件各自的下部开口部处张设的第1薄膜和第2薄膜将X射线分析用的试样（S）夹持。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 分析 试样 保持 设置 夹具 | ||
【主权项】：
一种X射线分析用试样保持器，其特征在于，具备第1环状部件、第2环状部件和第3环状部件；所述第2环状部件在与上述第1环状部件之间夹着第1薄膜的状态下嵌入插入在上述第1环状部件内，将下部开口部覆盖而张设上述第1薄膜；所述第3环状部件在与上述第2环状部件之间夹着第2薄膜的状态下嵌入插入在上述第2环状部件内，将下部开口部覆盖而张设上述第2薄膜；用在上述第2环状部件和上述第3环状部件各自的下部开口部处张设的上述第1薄膜和上述第2薄膜将X射线分析用的试样夹持。
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