[发明专利]星用介质材料温度梯度下体电导率的测量方法及其装置有效
| 申请号： | 201410727291.4 | 申请日： | 2014-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN104375008A | 公开（公告）日： | 2015-02-25 |
| 发明（设计）人： | 孙永卫;曹鹤飞;王松;武占成;杨洁;原青云 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军军械工程学院 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 陆林生 |
| 地址： | 050003 *** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种星用介质材料温度梯度下体电导率的测量方法及其装置，涉及介质材料电导率测量装置领域；所述方法包括如下步骤：（a）采用多层电路板加工工艺在介质材料内沿厚度方向设置排列至少四层测试电极层，每层测试电极层上设有至少一个测试电极片，沿厚度方向的上下相邻的两个测试电极片结构相同且位置对应，形成一对测试电极，每对测试电极中间的介质材料上设置一个温度传感器；（b）用模拟阳光的光源照射介质材料上表面，使得介质材料具有温度梯度分布；测量每对测试电极间的电压V和电流I，记录温度传感器所测量的温度值；（d）根据公式 |
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| 搜索关键词： | 介质 材料 温度梯度 下体 电导率 测量方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
一种星用介质材料温度梯度下体电导率的测量方法，其特征在于包括如下步骤：（a） 采用多层电路板加工工艺在介质材料（1）内沿厚度方向设置排列至少四层测试电极层，每层测试电极层上设有至少一个测试电极片，沿厚度方向的上下相邻的两个测试电极片结构相同且位置对应，形成一对测试电极，每对测试电极中间的介质材料（1）上设置一个温度传感器（8）；（b）用模拟阳光的光源照射介质材料（1）上表面，使得介质材料（1）具有温度梯度分布；（c） 测量每对测试电极间的电压V和电流I，记录温度传感器（8）所测量的温度值； （d）根据公式![]()
计算每对测试电极间介质材料（1）的电导率，其中S为一个测试电极片的面积，d为每对测试电极沿厚度方向的距离。
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