[发明专利]形成鳍式场效应晶体管的方法有效

专利信息
申请号: 201410710192.5 申请日: 2014-11-28
公开(公告)号: CN104409357A 公开(公告)日: 2015-03-11
发明(设计)人: 鲍宇 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 吴俊
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种形成鳍式场效应晶体管的方法,包括如下步骤:提供一半导体衬底,刻蚀半导体衬底以形成若干鳍状立柱;沉积栅电极材料层将鳍状立柱和半导体衬底暴露的表面予以覆盖;制备一硬掩膜层将一预设区域中的栅电极材料层的表面进行覆盖;制备一牺牲层,将预设区域中栅电极材料层顶部平面以上的硬掩膜层予以去除,以保留该预设区域中鳍状立柱两侧的硬掩膜层;利用该预设区域中栅电极材料层两侧的硬掩膜层作为刻蚀掩膜,对该预设区域中的栅电极材料层以及鳍状立柱进行刻蚀,以将该预设区域中鳍状立柱两侧的栅电极材料层断开为两个独立的部分。本发明通过引入SiN作为硬质掩膜,使得不同组的Fin形成不同的高度,用于后续photo的自对准。
搜索关键词: 形成 场效应 晶体管 方法
【主权项】:
一种形成鳍式场效应晶体管的方法,其特征在于,包括如下步骤:提供一半导体衬底,刻蚀所述半导体衬底以形成若干鳍状立柱;沉积栅电极材料层将所述鳍状立柱和半导体衬底暴露的表面予以覆盖;制备一硬掩膜层将一预设区域中的所述栅电极材料层的表面进行覆盖;制备一牺牲层,所述牺牲层的上表面与所述硬掩膜层的顶部平面齐平,将所述预设区域中栅电极材料层顶部平面以上的硬掩膜层予以去除,以保留该预设区域中位于鳍状立柱两侧的硬掩膜层;利用该预设区域中位于鳍状立柱两侧的硬掩膜层作为刻蚀掩膜,对该预设区域中的栅电极材料层以及鳍状立柱进行刻蚀,并暴露出所述鳍状立柱,以将该预设区域中鳍状立柱两侧的栅电极材料层断开为两个独立的部分。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华力微电子有限公司,未经上海华力微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410710192.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top