[发明专利]射频功率校准方法、装置及系统在审
| 申请号： | 201410690769.0 | 申请日： | 2014-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN105703843A | 公开（公告）日： | 2016-06-22 |
| 发明（设计）人： | 董旭 | 申请（专利权）人： | 航天信息股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 北京工信联合知识产权代理事务所(普通合伙) 11266 | 代理人： | 李韬 |
| 地址： | 100195 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种射频功率校准方法、装置及系统，所述方法包括步骤：A)控制待测射频器件发射第一载波射频信号；B)控制功率检测装置检测所述第一载波射频信号；C)从所述待测射频器件中获取由所述第一载波射频信号转换形成的第一测量值，并从所述功率检测装置中获取对所述第一载波射频信号检测形成的第二测量值；D)根据所述第一测量值和所述第二测量值计算射频功率校准系数；以及E)上传所述校准系数至所述待测射频器件。本发明实现不仅能避免人工手动校准过程中因人为因素造成的错误，还能使得校准过程准确快捷。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 功率 校准 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种射频功率校准方法，其特征在于，包括步骤：A)控制待测射频器件发射第一载波射频信号；B)控制功率检测装置检测所述第一载波射频信号；C)从所述待测射频器件中获取由所述第一载波射频信号转换形成的第一测量值，并从所述功率检测装置中获取对所述第一载波射频信号检测形成的第二测量值；D)根据所述第一测量值和所述第二测量值计算射频功率校准系数；以及E)上传所述校准系数至所述待测射频器件。
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