[发明专利]一种测量自由曲面面型的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201410616937.1 申请日: 2014-11-05
公开(公告)号: CN104315993A 公开(公告)日: 2015-01-28
发明(设计)人: 刘俭;谭久彬;王红婷 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙) 23209 代理人: 张伟
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种测量自由曲面面型的装置和方法属于光学显微成像领域;该装置包括:待测样品、电致发光薄膜和正负微电极、物镜、滤光片、管镜、分光镜、第一CCD、第二CCD、光学成像测量部分组成,该方法通过在样品表面镀电致发光荧光介质膜,通电后样品表面被点亮,结合光学探测光路即可实现自由曲面面型的测量,通过电致发光来代替传统的光学照明,避免了由于照明孔径带来的大曲率部分不可测的问题,使用第一CCD、第二CCD进行差动探测,可以提高系统信噪比,从而测量法线与轴向夹角大的样品表面形貌。
搜索关键词: 一种 测量 自由 曲面 装置 方法
【主权项】:
一种测量自由曲面面型的装置,其特征在于,包括:电致发光膜照明部分和光学成像测量部分(9);所述的电致发光膜照明部分由待测样品(1)、镀在样品(1)表面的电致发光薄膜(2)成,所述的电致发光薄膜(2)上有微电极;所述的光学成像测量部分(9)沿收集光信号传播方向依次设置物镜(3)、滤光片(4)、管镜(5)、分光镜(6)、第一CCD(7)和第二CCD(8);所述的第一CCD(7)和第二CCD(8)对称离焦放置。
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