[发明专利]同步定位放射性物质的检查系统和方法有效
| 申请号： | 201410616368.0 | 申请日： | 2014-11-05 |
| 公开（公告）号： | CN104374784A | 公开（公告）日： | 2015-02-25 |
| 发明（设计）人： | 曾磊;王强;杜龙 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/10;G01V5/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王波波 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种定位放射性物质的系统和方法。扫描成像装置包括产生X射线的射线源和接收穿透被检目标的X射线的探测设备，射线源通过向被检目标发射X射线来对被检目标进行成像。放射性探测器与扫描成像装置的扫描过程同步地探测被检目标中是否包含放射性物质。在放射性探测器探测到放射性物质的情况下，在扫描成像装置得到的X射线图像中标注放射性物质在被检目标的图像中的实际位置。上述方案提高了在X射线图像中显示放射源位置的精度。此外，在对图像进行扫描的同时，完成放射物质检查。避免了由于两套系统分别独立运行，导致两套系统的检查结果在一一对应时，可能出现的错误。 | ||
| 搜索关键词： | 同步 定位 放射性 物质 检查 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种同步定位放射性物质的检查系统，包括：扫描成像装置，包括产生X射线的射线源和接收穿透被检目标的X射线的探测设备，所述射线源通过向所述被检目标发射X射线来对所述被检目标进行成像；放射性探测器，与所述扫描成像装置的扫描过程同步地探测所述被检目标中是否包含放射性物质；其中，在所述放射性探测器探测到放射性物质的情况下，在所述扫描成像装置得到的X射线图像中标注所述放射性物质在所述被检目标的图像中的实际位置。
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