[发明专利]一种窄脉宽激光微峰值功率密度测试仪及方法在审
申请号: | 201410586545.5 | 申请日: | 2014-10-20 |
公开(公告)号: | CN104330157A | 公开(公告)日: | 2015-02-04 |
发明(设计)人: | 李昌立;樊宪堂;王頔;李金泉;王治洋;刘增 | 申请(专利权)人: | 长春理工大学;中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 吉林省长*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本发明公开了一种窄脉宽激光微峰值功率密度测试仪及方法,该测试仪包括光电探测器(101),多级放大滤波电路(102),TDS3000系列示波器(103)和计算机控制模块(104)。本发明采用高频示波器进行信号采集,采用专用软件进行数据处理,最终实现1μW/cm2~2.54mW/cm2峰值功率密度和10ns以上脉宽的窄脉宽微激光信号的计量。 | ||
搜索关键词: | 一种 窄脉宽 激光 峰值 功率密度 测试仪 方法 | ||
【主权项】:
一种窄脉宽激光微峰值功率密度测试仪,其特征在于,包括光电探测器(101),多级放大滤波电路(102),TDS3000系列示波器(103)和计算机控制模块(104)。
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