[发明专利]一种窄脉宽激光微峰值功率密度测试仪及方法在审

专利信息
申请号: 201410586545.5 申请日: 2014-10-20
公开(公告)号: CN104330157A 公开(公告)日: 2015-02-04
发明(设计)人: 李昌立;樊宪堂;王頔;李金泉;王治洋;刘增 申请(专利权)人: 长春理工大学;中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 吉林省长*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明公开了一种窄脉宽激光微峰值功率密度测试仪及方法,该测试仪包括光电探测器(101),多级放大滤波电路(102),TDS3000系列示波器(103)和计算机控制模块(104)。本发明采用高频示波器进行信号采集,采用专用软件进行数据处理,最终实现1μW/cm2~2.54mW/cm2峰值功率密度和10ns以上脉宽的窄脉宽微激光信号的计量。
搜索关键词: 一种 窄脉宽 激光 峰值 功率密度 测试仪 方法
【主权项】:
一种窄脉宽激光微峰值功率密度测试仪,其特征在于,包括光电探测器(101),多级放大滤波电路(102),TDS3000系列示波器(103)和计算机控制模块(104)。
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