[发明专利]测量过滤器污染的装置及测量过滤器污染的方法有效
| 申请号： | 201410585030.3 | 申请日： | 2014-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN105628652B | 公开（公告）日： | 2018-11-23 |
| 发明（设计）人： | 李贤荣;张志雄 | 申请（专利权）人： | 罗伊电子有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 张晶;王莹 |
| 地址： | 韩国大*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 根据本实施例的测量过滤器污染的装置的一个形态，其包括：发光部，其向吸附异物的过滤器提供具有既定波长的光；受光部，其吸收反射到过滤器的反射光，将反射光信息转换为数字代码并输出；及污染度运算部，其对受光部提供的数字代码进行处理，运算过滤器的污染度，其中，污染度运算部运算反射到过滤器的反射光的波长由既定波长发生变化的程度，并对比发光部提供的光的光量与反射到过滤器的反射光的光量，由此，运算过滤器的污染度。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 过滤器 污染 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量过滤器污染的装置，其包括：发光部，其向吸附异物的过滤器提供具有既定波长的光，受光部，其吸收从过滤器反射的反射光，将反射光信息转换为数字代码并输出，及污染度演算部，其对受光部提供的数字代码进行处理，演算过滤器的污染度；其中，所述污染度演算部利用波长变化程度和光量变化程度演算过滤器的污染度，所述波长变化程度为在过滤器反射的反射光的波长从既定波长发生变化的程度，所述光量变化程度为在过滤器反射的反射光的光量从发光部提供的光的光量发生变化的程度，所述波长变化程度是所述污染度演算部获得的照射光的波长带宽与反射光的波长带宽之间的差异值或者照射光的波长带宽与反射光的波长带宽的比率值，所述光量变化程度是所述污染度演算部获得的照射光的光量与反射光的光量之间的差异值或者照射光的光量与反射光的光量的比率值。
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