[发明专利]一种利用圆锥形线的变形测量方法有效
申请号: | 201410572991.0 | 申请日: | 2014-10-23 |
公开(公告)号: | CN104296647A | 公开(公告)日: | 2015-01-21 |
发明(设计)人: | 卢应发 | 申请(专利权)人: | 湖北工业大学 |
主分类号: | G01B5/30 | 分类号: | G01B5/30;G01B11/16;G01B21/32 |
代理公司: | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 温珊姗 |
地址: | 430068 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种利用圆锥形线的变形测量方法,采用圆锥形线作为测量线;固定测量线的两端,在测量线上安装测量元器件,将可转动伸缩杆固定于测量体要求的测量点上,提取初始变形显示器的值,计算转化为大位移的结果;在经历一段时间的变形之后,再提取变形显示器的值,即可得到在该段时间内该点的变形结果。其优点是:1)实现了从小变形测量,从而获得大位移的测量结果,解决了室内及现场大位移和全断面测量的难题;2)测量线成本低且易于获取;3)测量元器件便宜、简单,方便人工或数据提取;测量精度变化范围广,适应性强;4)适用范围广,可以是室内试验和现场测量;5)可以沿测量线的不同断面实施全断面测量,也可以实施三维测量。 | ||
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【主权项】:
一种利用圆锥形线的变形测量方法,其特征在于包括如下步骤:⑴采用圆锥形线作为测量线;⑵固定测量线的两端,在测量线上安装测量元器件,将可转动伸缩杆固定于测量体要求的测量点上,提取初始变形显示器的值Δr1,计算转化为大位移的结果ΔL1=Δr1/tanφ;式中,ΔL1为第一次测量位移,r为圆锥线半径,φ为圆锥边线与中心线夹角;⑶在经历一段时间的变形之后,再提取变形显示器的值Δr2,并计算ΔL2,则在该段时间内该点的变形结果ΔL=ΔL2‑ΔL1;式中,ΔL2为第二次测量位移,ΔL为两次测量位移差。
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