[发明专利]坐标检测设备、坐标检测的方法及电子信息板系统有效
| 申请号： | 201410565744.8 | 申请日： | 2014-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN104423731B | 公开（公告）日： | 2017-09-01 |
| 发明（设计）人： | 大村克之 | 申请（专利权）人： | 株式会社理光 |
| 主分类号： | G06F3/042 | 分类号： | G06F3/042 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人： | 安之斐 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种坐标检测设备，包括光发射元件，该光发射元件被提供在围绕显示器的表面的周边部分中，并且在平行于显示器的表面的方向上发射光；光接收元件，该光接收元件被提供在围绕显示器的表面的周边部分中，并且接收从光发射元件发射的光；以及偏振单元，该偏振单元将由光接收元件的光接收表面接收的光的振荡方向限制于预定方向，在该预定方向中在光接收表面上仅形成实像，其中基于由光接收元件接收的光的光强度分布来检测指示单元接触显示器的表面的接触位置的坐标。 | ||
| 搜索关键词： | 坐标 检测 设备 方法 电子信息 系统 | ||
【主权项】：
一种坐标检测设备，包括：光发射元件，所述光发射元件被提供在围绕显示器的表面的周边部分中，并且发射光到所述显示器的表面；光接收元件，所述光接收元件被提供在围绕显示器的表面的周边部分中，并且通过光接收透镜接收从所述光发射元件发射的光；以及偏振单元，所述偏振单元阻挡S偏振分量且使P偏振分量穿透所述偏振单元，所述S偏振分量和所述P偏振分量被包括在由所述光接收元件的光接收表面接收的光中，所述S偏振分量在垂直方向上振荡，所述P偏振分量在水平方向上振荡，所述偏振单元沿着接收光的方向位于所述光接收透镜之前，以防止虚像到达所述光接收元件的光接收表面，其中基于由所述光接收元件接收的光的光强度分布来检测指示单元接触显示器的表面的接触位置的坐标。
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