[发明专利]利用共聚焦显微镜对试样表面进行三维重建的方法在审

专利信息
申请号: 201410564323.3 申请日: 2014-10-21
公开(公告)号: CN104318620A 公开(公告)日: 2015-01-28
发明(设计)人: 卞欣;范益 申请(专利权)人: 南京钢铁股份有限公司
主分类号: G06T17/30 分类号: G06T17/30
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 任立;艾中兰
地址: 210035*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开一种利用共聚焦显微镜对试样表面进行三维重建的方法,属于材料分析与测试领域。本发明充分利用了共聚焦显微镜的超大景深,同时排除掉来自非焦平面的反射光的干扰,从而可以得到高清晰度、高对比度的三维立体形貌,弥补了扫描电镜以及金相显微镜存在的一些不足之处。由于实验参数取值范围缩小,参数取值更具针对性和可操作性,所以不但提高了实验结果的准确性,而且大大节约了实验时间,从而提高了共聚焦显微镜的实验效率。
搜索关键词: 利用 聚焦 显微镜 试样 表面 进行 三维重建 方法
【主权项】:
一种利用共聚焦显微镜对试样表面进行三维重建的方法,其特征在于包括如下步骤:  (1)放入样品,在明场观察模式下找到焦平面    启动 Zen2010 共聚焦软件,切换为明场观察模式,打开卤素灯,将明场光学模块转入光路;放入样品,精确确定样品观察区域;(2)将明场观察模式切换到激光扫描模式  在Zen2010共聚焦软件中,点击“Ocular”标签,选择“Online”,点击“Acquisition”按钮,将明场光学模块转出光路,LSM700转入激光扫描模式;  (3)设置激光扫描参数在“Acquisition”和“ Channels ”标签下进行扫描参数的设置:将Lasers设置为3.0~6.0%范围;    将Pinhole设置为1AU  36.0~47.0  范围;将Master Gain设置为200~450范围;将Digital Offset设置为1.0~5.0范围;将Digital Gain设置为0~3.0范围;各参数设置完成后,在激光扫描模式下进行扫描和成像,得到清晰的共聚焦图像;   (4)选用“Z‑Stack”模式,完成光学切片;  (5)利用软件合成2D图像;  (6)分析扫描结果,进行三维形貌重建。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京钢铁股份有限公司,未经南京钢铁股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410564323.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top