[发明专利]一种光发射机调制度测量设备的校准装置和方法有效
| 申请号： | 201410546908.2 | 申请日： | 2014-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN104410445A | 公开（公告）日： | 2015-03-11 |
| 发明（设计）人： | 唐义;南一冰;黄河清;王少水;孙权社;张学彬 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学;中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 主分类号： | H04B10/07 | 分类号： | H04B10/07 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100081 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光发射机调制度测量设备的校准装置。包括光发射机、信号调制、待校准设备、波形采集和数据处理5个部分。其中，光发射机发出光信号，经信号调制单元调制为方波信号，再经过待校准设备的光电转换，传输给波形采集单元采样，最后由数据处理单元处理后计算出调制度。另外，本发明还公开了一种光发射机调制度测量设备的校准方法。该方法通过开始、信号调制、波形采集、调制度计算、判断和校准六个步骤实现校准光发射机调制度测量设备的功能。本发明公开的校准装置和方法可校准不同工作波段和频率的光发射机调制度测量设备，精确测定此类设备在检测光通信整机功率和效率方面的能力，有利于改进此类设备的性能，提高其可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发射机 调制 测量 设备 校准 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种光发射机调制度测量设备的校准装置，包括光发射机、信号调制单元、待校准设备、波形采集单元和数据处理单元。其特征在于：提供一种能够对光发射机调制度测量设备的测量能力和精度进行校准的装置。
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