[发明专利]一种基于光学频率梳的光谱测量方法

摘要

本发明公开了一种基于光学频率梳的光谱测量方法，该测量方法首先利用一台时域和频域可控的光学频率梳主动调制一个基于相位调制器的环形激光谐振腔，使其成为与这一台光学频率梳具有重复频率微小差别的第二台光学频率梳，并进行双光学频率梳光谱探测，得到携带待测样品信息的干涉信号；同时，这两台光学频率梳分别与连续稳频激光进行拍频，所得到的两个拍频信号的差频信号与该干涉信号进行混频，探测混频得到的信号作为光谱信号进行傅里叶分析，以还原待测样品的光学信息。本发明的优点是，可以消除由双光梳系统自身的相位漂移给光谱探测带来的误差，从而提高光谱测量的分辨率与探测精度。

主权项

一种基于光学频率梳的光谱测量方法，涉及待测样品，其特征在于所述测量方法至少包括如下步骤：采用一台时域和频域可控的光学频率梳Ⅰ，将其输出的一部分光信号调制一个由相位调制器组成的环形激光谐振腔，使所述环形激光谐振腔成为重复频率稳定的光学频率梳Ⅱ。