[发明专利]一种频谱分析仪的控制与测量并行处理方法有效
| 申请号： | 201410528921.5 | 申请日： | 2014-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN104316764B | 公开（公告）日： | 2017-04-26 |
| 发明（设计）人： | 马风军;邓旭亮;李晓军 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
| 主分类号： | G01R23/175 | 分类号： | G01R23/175 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 266555 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出了一种频谱分析仪的控制与测量并行处理方法，在获取数据后，先进行下一次测量所需要的硬件电路设置，并记录当前的时刻，再启动频谱计算过程；频谱计算过程中，同时对硬件电路进行延迟；当频谱计算过程结束后，记录结束时刻，测算频谱计算所占用的时间，并与前面硬件电路设置时所反馈的延迟时间进行分析做比较若还未满足硬件电路的延迟需要，则延迟剩余所需的时间；否则不再延迟，直接启动新的扫描。本发明能够实现测量与控制的并行处理、处理器资源最大利用；对原有的测量控制的源代码改动极少，具有较强的实用性；在单核CPU上就能取得良好的效果，对硬件要求低；接口简单清晰，易于使用，并具有良好的复用性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 频谱 分析 控制 测量 并行 处理 方法 | ||
【主权项】：
一种频谱分析仪的控制与测量并行处理方法，其特征在于，在获取数据后，先进行下一次测量所需要的硬件电路设置，并记录当前的时刻，再启动频谱计算过程；频谱计算过程中，同时对硬件电路进行延迟；当频谱计算过程结束后，记录结束时刻，测算频谱计算所占用的时间，并与前面硬件电路设置时所反馈的延迟时间进行分析做比较：若还未满足硬件电路的延迟需要，则延迟剩余所需的时间；否则不再延迟，直接启动新的扫描。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所，未经中国电子科技集团公司第四十一研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410528921.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：碳化硅器件的欧姆接触测试方法
- 下一篇：通过虚拟接入点接口来使用服务
