[发明专利]基于控制准则的测试选择的方法和装置有效
| 申请号： | 201410526253.2 | 申请日： | 2014-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN104572321B | 公开（公告）日： | 2018-05-29 |
| 发明（设计）人： | Y·S·阿德勒;D·E·布鲁;E·D·法尔其;O·拉兹-佩莱格;A·兹洛特尼克 | 申请（专利权）人： | 格芯公司 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 于静;张亚非 |
| 地址： | 开曼群岛*** | 国省代码： | 开曼群岛;KY |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于控制准则的测试选择的方法和装置。在某些实施例中，从测试套件中排除受控测试，每个受控测试由预定数量的主控测试控制，其中如果由受控测试覆盖的每个目标也由主控测试覆盖，则所述受控测试由所述主控测试控制。在某些实施例中，确定精简测试套件，方式为：从测试套件中排除覆盖由所述精简测试套件控制N次的受控目标集合的每个测试，其中如果受控目标集合中的每个目标由测试集合中的至少N个测试覆盖，则所述受控目标集合由所述测试集合控制N次，其中N是大于1的预定数量。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 测试套件 集合 受控 受控目标 主控 方法和装置 测试控制 覆盖 | ||
【主权项】：
1.一种具有处理器的计算机化装置，所述处理器适于执行以下步骤：获得包括测试集合的测试套件，其中每个测试与该测试在执行时覆盖的目标集合相关联；从所述测试套件中排除受控测试，每个受控测试由预定数量的主控测试控制，其中如果由受控测试覆盖的每个目标也由主控测试覆盖，则所述受控测试由所述主控测试控制；以及由此确定精简测试套件，其中所述精简测试套件覆盖由所述测试套件覆盖的每个目标，其中所述精简测试套件包括覆盖多个目标的非受控测试，并且其中所述测试套件中的两个或更多测试共同覆盖所述多个目标。
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