[发明专利]阵列基板检测头及检测装置、阵列基板检测方法在审
| 申请号： | 201410505974.5 | 申请日： | 2014-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN104280904A | 公开（公告）日： | 2015-01-14 |
| 发明（设计）人： | 林金升;赵海生;田超;范晓帅;温召虎 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;黄灿 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种阵列基板检测头及检测装置、阵列基板检测方法，属于阵列电路检测领域。其中，该阵列基板检测头用于对阵列基板上的多个阵列电路进行检测，所述阵列基板检测头包括：检测头本体；设置在所述检测头本体上、用于向所述阵列电路的信号端点加载测试信号的探针组件；设置在所述检测头本体上、用于检测所述阵列电路传递的测试信号的检测电路。本发明的技术方案能够对基板上的阵列电路进行全方位的测试，并且避免了检测头与探针框架发生碰撞造成的损失。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种阵列基板检测头，用于对阵列基板上的多个阵列电路进行检测，其特征在于，所述阵列基板检测头包括：检测头本体；设置在所述检测头本体上、用于向所述阵列电路的信号端点加载测试信号的探针组件；设置在所述检测头本体上、用于检测所述阵列电路传递的测试信号的检测电路。
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