[发明专利]一种测量乳腺钼靶X射线多参数的传感器阵列及其测量方法

摘要

本发明涉及X射线参数测量仪，具体涉及一种测量乳腺钼靶X射线多参数的传感器阵列及其测量方法，包括电路板(1)和过滤盖(2)，在电路板(1)上设有由三个SI‑PIN二极管组成的探测器阵列(3)，在所述三个SI‑PIN二极管的表面加有稀土层，所述过滤盖(2)上位置与电路板(1)上探测器阵列相适应处设有三个过滤孔(4)，所述三个过滤孔(4)的厚度相互不等，所述电路板(1)上有三个SI‑PIN的信号引出端口。本发明解决现有技术中针对乳腺钼靶X射线装置无法通过一次曝光测量管电压、半值层、剂量和曝光时间的问题，且本发明的测量方法操作简单，准确度高，安全性好，以及测量成本低。

主权项

一种乳腺钼靶X射线多参数的测量方法，X射线多参数包括管电压、剂量及剂量率、曝光时间和半值层，其特征在于包括以下步骤：将X射线同时照射在三个具有不同厚度的过滤孔上，过滤孔的后方设置有由三个SI‑PIN二极管组成的探测器阵列，三个SI‑PIN二极管和三个过滤孔一一对应，所述三个SI‑PIN二极管接收到经过过滤孔过滤的X射线后，所形成的信号再经过AD转换器，形成三个电信号，分别为一号电信号、二号电信号和三号电信号；利用三个电信号经过计算得出管电压、剂量及剂量率、曝光时间和半值层：管电压的计算：获取X射线经过滤孔后的形成的一号电信号和二号电信号，分别为剂量值D1和剂量值D2，结合衰减系数μ得到剂量比，将剂量比对照至剂量比值与管电压对应的数值关系表，根据所述剂量比值与管电压对应数值关系表：即查出相应的管电压值；半值层：定义μx、μy为X射线衰减系数，取一号电信号、二号电信号和三号电信号，分别为经过过滤孔后的X射线强度值D1、D2和D3，由X射线强度值D2和D3得出衰减函数μx1，将X射线强度值D1除以D3可得到一个比例值μy1，采用PTW剂量计测量乳腺钼靶X射线机曝光时在固定管电压的半值层Hvl1，形成一个由μx1，μy1，Hvl1形成的刻度组(μx1，μy1，Hvl1)，改变X射线机的管球电压形成另一个刻度组，最后形成半值层刻度系数表：根据半值层刻度系数表，即可得到半值层；剂量测量的算法：定义Svk为剂量修正因子，直接根据剂量刻度因子修正表即可得出剂量修正因子Svk和剂量率；曝光时间测量算法：当半导体有信号输出时用比较器的比较电压与该信号值进行对比，当信号量大于约定有效电压值时比较器将输出高电平，单片机通过识别这个高电平信号的有无从而启停定时器，进而可测量出医用诊断X射线机的曝光时间。