[发明专利]用来测量几何特征的测量系统和测量方法有效
| 申请号： | 201410493810.5 | 申请日： | 2014-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN105509639B | 公开（公告）日： | 2019-01-01 |
| 发明（设计）人： | 韩旭;谢广平;凯文·乔治·哈丁;约翰·布兰登·拉弗伦 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 侯颖媖 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了用来测量几何特征的测量系统和测量方法。该测量系统包括：发光单元，用来发出准直光束；前透镜，用来反射部分所述准直光束来发射结构光的前聚焦光环至被测对象来获得来自所述被测对象的前反射光环，并且用来允许部分准直光束通过；后透镜，在光传播路径上位于所述前透镜的下游，用来反射至少部分通过所述前透镜的所述准直光束来发射所述结构光的后聚焦光环至所述被测对象来获得来自所述被测对象的后反射光环；成像单元，用来记录所述前反射光环和所述后反射光环的组合图像；及处理单元，连接于所述成像单元，用来根据所述组合图像获得所述被测对象的至少一个几何特征。本发明还涉及一种用来测量被测对象的几何特征的测量方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用来 测量 几何 特征 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量系统，其特征在于，其包括：发光单元，用来发出准直光束；前透镜，用来反射部分所述准直光束来发射结构光的前聚焦光环至被测对象来获得来自所述被测对象的前反射光环，并且用来允许部分准直光束通过；后透镜，在光传播路径上位于所述前透镜的下游，用来反射至少部分通过所述前透镜的所述准直光束来发射所述结构光的后聚焦光环至所述被测对象来获得来自所述被测对象的后反射光环；成像单元，用来记录所述前反射光环和所述后反射光环的组合图像；及处理单元，连接于所述成像单元，用来根据所述组合图像获得所述被测对象的至少一个几何特征；其中，所述前透镜的第一底面的直径小于所述准直光束的直径，且所述后透镜的第二底面的直径大于所述前透镜的第一底面的直径。
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