[发明专利]一种极低频电波屏蔽测试装置有效

专利信息
申请号: 201410465527.1 申请日: 2014-09-12
公开(公告)号: CN104198975B 公开(公告)日: 2017-01-25
发明(设计)人: 董伟;沈超;陈涛;王乃泉;罗静 申请(专利权)人: 中国科学院空间科学与应用研究中心
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京方安思达知识产权代理有限公司11472 代理人: 王宇杨,吕爱霞
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种极低频电波屏蔽测试装置,该装置包括电波屏蔽筒和筒内测试线圈,筒内测试线圈位于电波屏蔽筒内;电波屏蔽筒包括第一筒端盖、第二筒端盖、厚壁金属管、螺杆、双重孔盖和屏蔽盖;将第一筒端盖,厚壁金属管和第二筒端盖通过螺杆固定成一体,形成极低频电波屏蔽测试装置的屏蔽空腔主体部分;筒内测试线圈由外到内分布有支撑测试螺线管线圈的盘支架、位于测试螺线管线圈外面的保护套管、测试螺线管线圈、缠绕所述测试螺线管线圈的圆管;位于圆管孔内用于支撑测试管的管支架和测试管。本发明的极低频电波屏蔽测试装置屏蔽范围宽,整体密闭及屏蔽性能强,尤其对中低频段电波屏蔽效果好,适合专业实验室使用。
搜索关键词: 一种 低频 电波 屏蔽 测试 装置
【主权项】:
一种极低频电波屏蔽测试装置,该装置包括:电波屏蔽筒(1)和筒内测试线圈(2),所述筒内测试线圈(2)位于所述电波屏蔽筒(1)内;所述电波屏蔽筒(1)包括:第一筒端盖(1‑1)、第二筒端盖(1‑2)、厚壁金属管(1‑3)、螺杆(1‑4)、双重孔盖(1‑5)和屏蔽盖(1‑57);所述第一筒端盖(1‑1)和所述第二筒端盖(1‑2)位于所述厚壁金属管(1‑3)的两端;所述双重孔盖(1‑5)封闭所述第二筒端盖(1‑2),所述屏蔽盖(1‑57)用于覆盖封闭所述双重孔盖(1‑5);将所述第一筒端盖(1‑1)、所述厚壁金属管(1‑3)和所述第二筒端盖(1‑2)通过所述螺杆(1‑4)固定成一体,形成极低频电波屏蔽测试装置的屏蔽空腔主体部分;所述筒内测试线圈(2)由外到内分布有支撑测试螺线管线圈(2‑1)的盘支架(2‑2)、位于测试螺线管线圈(2‑1)外面的保护套管(2‑7)、测试螺线管线圈(2‑1)、缠绕所述测试螺线管线圈(2‑1)的圆管(2‑6);位于所述圆管(2‑6)孔内用于支撑测试管(2‑4)的管支架(2‑5)和测试管(2‑4);所述测试管(2‑4)的长度大于所述测试螺线管线圈(2‑1)的长度。
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