[发明专利]一种极低频电波屏蔽测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及电波屏蔽领域，尤其涉及一种极低频电波屏蔽测试装置，用作卫星低频电磁波探测器的三维搜索线圈传感器上各线圈分量的电磁检测筛选试验。

背景技术

低频电波屏蔽技术是指：利用良导电性物质的高电导率既等电位屏蔽体特性，形成电磁相对干净的空间区域，用于屏蔽特定空间区域外部交变电波对其内部产生的电波泄漏等干扰。对于10Hz量级的极低频电波，由于电波泄漏于屏蔽导体层内部的趋肤深度明显加大或面电流层明显加厚等不利因素，此时，电波屏蔽体不仅要有对通常交流屏蔽体非常良好的接地结构和极低的接地电阻等常规措施，还需采用多层或加厚的屏蔽体器壁及极高电导率的器壁导电材料，以避免较厚的低频趋肤面电流层透入到屏蔽体内部。在检测极微弱低频电波，特别是采用高导磁软磁芯的电磁线圈测量微弱低频电波时，此类电波屏蔽体尤为重要。

在卫星空间探测时，由于所要检测的磁层空间电波极其微弱，要求采用的低频电波探测器具备极高的电磁灵敏度、分辨率以及长期工作稳定性等严格的技术指标和性能。因此在探测器设备研制过程的各环节或阶段中，需要针对不同项目、类型及性能要求对探测器进行多方面严格地检测和参数标定。但是，在目前试验室环境中，很难模拟出外层空间真实的物理环境及低干扰物理背景，而达到更高标准的严格指标检测更为困难。以背景低频电磁噪声小于10^-5nT/(Hz)^1/2的环境为例，为了实现对这一波段的低频电波探测器设备严格地检测与标定，需要具备对极低频电波进行屏蔽同时又能对探测器的传感器搜索线圈作基本测试、筛选及标定的装置，目前只能在实验室中采用非常规的金属屏蔽筒侧壁加厚的屏蔽方法来模拟实现满足这一电磁指标的空间环境。

发明内容

本发明的目的在于，克服实验室实际环境中噪声背景对高灵敏度的低频电波探测器检测模拟空间中极低频电磁信号造成的干扰，从而提供一种极低频电波屏蔽测试装置。

为实现上述发明目的，本发明的极低频电波屏蔽测试装置包括：

电波屏蔽筒1和筒内测试线圈2，所述筒内测试线圈2位于所述电波屏蔽筒1内；

所述电波屏蔽筒1包括：第一筒端盖1-1、第二筒端盖1-2、厚壁金属管1-3、螺杆1-4、双重孔盖1-5及屏蔽盖1-57；所述第一筒端盖1-1和所述第二筒端盖1-2位于所述厚壁金属管1-3的两端；所述双重孔盖1-5封闭所述第二筒端盖1-2，所述屏蔽盖1-57用于覆盖封闭所述双重孔盖1-5；将所述第一筒端盖1-1，所述厚壁金属管1-3和所述第二筒端盖1-2通过所述螺杆1-4固定成一体，形成极低频电波屏蔽测试装置的屏蔽空腔主体部分；

所述筒内测试线圈2由外到内分布有支撑测试螺线管线圈2-1的盘支架2-2、位于测试螺线管线圈2-1外面的保护套管2-7、测试螺线管线圈2-1、缠绕所述测试螺线管线圈2-1的圆管2-6；位于所述圆管2-6孔内用于支撑测试管2-4的管支架2-5和测试管2-4；所述测试管2-4的长度大于所述测试螺线管线圈2-1的长度。

上述技术方案中，所述第一筒端盖1-1沿中心轴线从内到外设有圆盆形凹槽1-11、环形凹槽1-12、螺孔1-13；所述第二筒端盖1-2从内到外设有通孔1-21，第一环形槽1-22、孔1-23；所述环形凹槽1-12的尺度和形状由所述厚壁金属管1-3的端部几何结构决定，所述环形凹槽1-12的凹槽深度不小于所述厚壁金属管1-3壁厚尺寸的1/2。

上述技术方案中，所述双重孔盖1-5包括：第一级孔盖1-51和第二级孔盖1-55；所述第一级孔盖1-51上开设有第一级孔盖通孔1-53，第一级孔盖顶部1-52设有环绕第一级孔盖通孔1-53的第二环形槽1-54；所述第二级孔盖1-55设有信号线孔1-56。

上述技术方案中，所述屏蔽盖1-57的侧壁上开有引线孔1-58；所述第一级孔盖顶部1-52上设有U型手柄1-59，所述U型手柄1-59中部设有旋钮1-510和中部螺孔1-511；所述旋钮1-510用于压紧屏蔽盖1-57。

上述技术方案中，所述第二级孔盖1-55用于封闭所述第一级孔盖通孔1-53，所述屏蔽盖1-57用于覆盖封闭所述第二级孔盖1-55；所述U型手柄1-59的两底脚处设有同轴线的轴孔，所述第一级孔盖顶部1-52为圆柱体，其侧壁沿径向开设两个螺孔，这两个螺孔同轴线，两个螺孔的中心连线与所述第一级孔盖1-51中心轴线垂直相交，这两个螺孔用于装设贯穿所述U型手柄1-59两底脚处轴孔的固定螺栓1-512，所述第一级孔盖顶部1-52沿轴向开设供所述第二级孔盖1-55穿入的通孔。