[发明专利]产生多个循环冗余校验的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201410452630.2 申请日: 2008-09-12
公开(公告)号: CN104253616B 公开(公告)日: 2019-01-04
发明(设计)人: 法鲁克·汉;皮周月;张建中 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H03M13/09 分类号: H03M13/09;H04L1/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 李敬文
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明提供了一种用于产生循环冗余校验(CRC)的方法和设备。在本发明的一个方面中,基于多个比特,使用选择的循环冗余校验生成多项式来计算多个循环冗余校验,基于具有特定比特排序的多个比特的第一子集来计算至少一个循环冗余校验,以及基于具有不同比特排序的多个比特的第二子集来计算至少另一循环冗余校验。比特的第二子集与比特的第一子集交叠。
搜索关键词: 产生 循环 冗余 校验 方法 设备
【主权项】:
1.一种通信方法,包括:基于第一循环冗余校验生成多项式,生成传送块的传送块循环冗余校验;当包括所述传送块循环冗余校验的所述传送块的比特数目大于最大码块大小时,将所述传送块分割成多个码块,其中码块之一包括所述传送块的一部分和所述传送块循环冗余校验;基于不同于第一循环冗余校验生成多项式的第二循环冗余校验生成多项式,生成所述多个码块的多个码块循环冗余校验,其中每个码块循环冗余校验是基于一个相应码块生成的;以及发送至少一个码块和至少一个码块循环冗余校验,其中所述传送块循环冗余校验的长度与所述码块循环冗余校验的长度相同,并且其中所述第二循环冗余校验生成多项式是g(x)=x24+x23+x6+x5+x+1。
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