[发明专利]一种航天器用镀膜光学透镜电离辐射效应试验方法无效
申请号: | 201410449860.3 | 申请日: | 2014-09-05 |
公开(公告)号: | CN104280408A | 公开(公告)日: | 2015-01-14 |
发明(设计)人: | 田海;冯展祖;李雅娟;郭兴;张剑锋 | 申请(专利权)人: | 兰州空间技术物理研究所 |
主分类号: | G01N23/00 | 分类号: | G01N23/00 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 付雷杰;杨志兵 |
地址: | 730000 甘*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
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摘要: | 本发明公开了一种航天器用镀膜光学透镜电离辐射效应试验方法。使用本发明能够有效模拟镀膜光学透镜在轨带电粒子的辐射效应,可应用于航天器用镀膜光学透镜的辐射性能评价。本发明综合考虑镀膜光学透镜膜层和基底材料的电离辐射效应,运用电子和60Coγ射线分别对镀膜光学透镜进行辐照,然后将辐照结果进行叠加,模拟空间辐照在镀膜光学透镜中的辐照剂量-沉积深度分布,从而全面考核光学透镜的耐空间辐射能力。 | ||
搜索关键词: | 一种 航天 器用 镀膜 光学 透镜 电离辐射 效应 试验 方法 | ||
【主权项】:
一种航天器用镀膜光学透镜电离辐射效应试验方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1,在轨环境辐照剂量‑沉积深度分布计算:根据给定轨道、任务寿命,选择相应的轨道粒子辐射模型,计算轨道粒子辐射剂量与粒子在镀膜光学透镜中沉积深度的关系曲线C;步骤2,初步选择用于地面辐照试验的辐射源,包括电子和60Coγ射线;其中,所选电子的能量E为该能量E下的电子射程尽量等于镀膜光学透镜膜层厚度,所选电子的辐照注量为所述能量E的电子在膜层表面的剂量达到在轨剂量Q的70%,所述在轨剂量Q为关系曲线C中沉积深度为0时对应的轨道粒子辐射剂量;所选60Coγ射线的辐射剂量为60Coγ射线在膜层表面的剂量达到所述在轨剂量Q的30%;步骤3,分别采用步骤2选定的电子和60Coγ射线对镀膜光学透镜进行辐照,获得电子辐照剂量与电子在镀膜光学透镜中沉积深度的关系曲线C1,以及60Coγ射线辐照剂量与60Coγ射线在镀膜光学透镜中沉积深度的关系曲线C2;步骤4,将关系曲线C1和关系曲线C2叠加,并将叠加后的曲线C3与步骤1获得的关系曲线C进行对比,调节电子的辐照注量和60Coγ射线辐照剂量,使叠加后的曲线C3与关系曲线C在膜层处尽量重合;步骤5,采用步骤4最终确定的电子和60Coγ射线进行地面辐照试验。
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