[发明专利]基于斐索干涉仪的透镜焦距测量装置及方法有效
申请号: | 201410439298.6 | 申请日: | 2014-08-29 |
公开(公告)号: | CN104165758B | 公开(公告)日: | 2017-01-18 |
发明(设计)人: | 高志山;杨忠明;田雪;王凯亮;王新星;窦健泰;袁群 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心32203 | 代理人: | 朱显国 |
地址: | 210094 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于斐索干涉仪的透镜焦距测量装置及方法。本发明通过在斐索涉仪装置中,先后在干涉腔中插入两块不同厚度的平行平板,来引入物点和像点的轴向位移,实现透镜焦距的测量。首先将玻璃平板放置在猫眼位置,当测试光路中不放置平行平板时,通过移相干涉测量得到测试波前数据W1和参考波前数据W0之差W1‑W0。分别将两个不同厚度的平行平板置在测试光路中,通过移相干涉测量得出两个不同的波差W2‑W0和波面W3‑W0。采用波前差分算法通过计算求得波差W2‑W1、波差W3‑W1和高斯成像公式,推导出透镜焦距的计算公式。本发明采用非接触式的测量方法避免了对透镜表面的损坏,同时该发明适用于正负透镜焦距的测量。 | ||
搜索关键词: | 基于 干涉仪 透镜 焦距 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种基于斐索干涉仪的透镜焦距测量装置,其特征在于:包括斐索干涉仪(1)、测试透镜(2)、平行平板(3)和玻璃平板(4);其中,测试透镜(2)、平行平板(3)、玻璃平板(4)沿光路方向顺次排列,构成测试透镜焦距的干涉光路;透镜焦距测量检测步骤为:1)分别测得第一次测量的平行平板(3)和第二次测量的平行平板(3)的厚度,根据已知的平行平板(3)的折射率,确定测试光经过第一平行平板所引入的像点的轴向位移Δl′1为:Δl1′=2(1-1n)h1]]>确定测试光经过第二平行平板所引入的像点的轴向平移Δl'2为:Δl2′=2(1-1n)h2]]>式中,n为平行平板的折射率,h1为第一平行平板的厚度,h2为第二平行平板的厚度;2)测试光路中不引入平行平板,将玻璃平板(4)调整至猫眼位置,利用多步移相算法对所得到的干涉条纹图进行数据处理,得到未引入平行平板时的测试波前W1与参考波前W0的波差W1‑W0;3)测试光路中引入第一平行平板,保持玻璃平板位置不动,调节第一平行平板的位置,使得干涉条纹同心圆环中心与CCD探测器的中心重合;利用多步移相算法对所得到的干涉条纹图进行数据处理,得到引入第一平行平板时的测试波前W2与参考波前W0的波差W2‑W0;基于波前差分算法,计算求得由于引入第一平行平板所引起的波前差分ΔW1=W2‑W1,并用Zernike多项式进行波面拟合,得到ΔW1的各项Zernike多项式系数:a0=Δl1·(-2+14NA2+124NA4+164NA6+1128NA8)]]>a3=Δl1·(14NA2+116NA4+9320NA6+164NA8)]]>a8=Δl1·(148NA4+164NA6+5448NA8)]]>a15=Δl1·(1320NA6+1256NA8)]]>a24=Δl1·(11792NA8)]]>其中,a0为常数项系数,a3为离焦项系数,a8初级球差项系数,a15为二阶球差项系数,a24为三阶球差项系数,Δl1为第一平行平板所引入的物点的轴向位移,NA为数值孔径;由此,求得数值孔径NA为:NA=28a245a15-35a24]]>第一平行平板所引入的物点的轴向位移Δl1为:Δl1=15[1a0(-2+14NA2+124NA4+164NA6+1128NA8)+1a3(14NA2+116NA4+9320NA6+164NA8)+1a8(148NA4+164NA6+5448NA8)+1a15(1320NA6+1256NA8)+1a24(11792NA8)]]]>4)测试光路中引入第二平行平板,保持玻璃平板位置不动,调节第二平行平板的位置,使干涉条纹同心圆环中心与CCD探测器的中心重合;利用多步移相算法对所得到的干涉条纹图进行数据处理,得到引入第二平行平板的测试波前W3与参考波前W0的波差W3‑W0;基于波前差分算法,可计算求得由于引入第二平行平板所引起的波前差分ΔW2=W3‑W1,并用Zernike多项式进行波面拟合,得到ΔW2的各项Zernike多项式系数:a0=Δl2·(-2+14NA2+124NA4+164NA6+1128NA8)]]>a3=Δl2·(14NA2+116NA4+9320NA6+164NA8)]]>a8=Δl2·(148NA4+164NA6+5448NA8)]]>a15=Δl2·(1320NA6+1256NA8)]]>a24=Δl2·(11792NA8)]]>其中,Δl2为第二平行平板所引入的物点的轴向位移;由此,求得数值孔径NA为:NA=28a245a15-35a24]]>第二平行平板所引入的物点的轴向位移Δl2为:Δl2=15[1a0(-2+14NA2+124NA4+164NA6+1128NA8)+1a3(14NA2+116NA4+9320NA6+164NA8)+1a8(148NA4+164NA6+5448NA8)+1a15(1320NA6+1256NA8)+1a24(11792NA8)]]]>5)当在测试光路中引入第一平行平板时,第一平行平板所引入的物点的轴向位移为Δl1,第一平行平板所引入的像点的轴向位移为Δl′1,则根据高斯成像公式可得,1l′-Δl1′-1l-Δl1=1f′]]>式中,l为未引入平行平板时的物距,l'为未引入平行平板时的像距,f'为测试透镜的焦距;在测试光路中引入第二平行平板时,第二平行平板所引入的物点的轴向位移为Δl2,第二平行平板所引入的像点的轴向位移为Δl'2,则根据高斯成像公式可得,1l′-Δl2′-1l-Δl2=1f′]]>由此可得测试透镜(2)的焦距f'为:f′=Δl1·Δl2′-Δl1′·Δl2Δl1·Δl1′·Δl2·Δl2′·(Δl1-Δl2)·(Δl1′-Δl2′)-Δl1·Δl1′·Δl2′+Δl1′·Δl2·Δl2′-1Δl1·Δl2′-Δl1′·Δl2Δl1·Δl1′·Δl2·Δl2′·(Δl1-Δl2)·(Δl1′-Δl2′)-Δl1·Δl1′·Δl2+Δl1·Δl2·Δl2′.]]>
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