[发明专利]一种嵌入式模块并发测试的方法及系统有效

专利信息
申请号: 201410436320.1 申请日: 2014-08-29
公开(公告)号: CN104216829B 公开(公告)日: 2017-09-19
发明(设计)人: 林伟 申请(专利权)人: 福建联迪商用设备有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 福州市博深专利事务所(普通合伙)35214 代理人: 林志峥
地址: 350003 福建省福州*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明涉及软件测试领域,尤其是一种嵌入式模块并发测试的方法及系统。其方法包括S101、对两个以上的待测试模块设置模块信息,将已设置的所述待测试模块组成待测试列表;S102、从所述待测试列表中提取每个待测试模块置于单独的线程中,并根据预设的初始化内容对所述每个待测试模块及所述线程进行初始化;S103、在步骤S102初始化后,并发启动线程来执行模块测试函数并返回模块测试结果;S104、统计所述模块测试结果并判断所述模块测试结果是否出现错误;S105、若所述模块测试结果出现错误,将所述模块测试结果存储至预设的错误日志文件。通过该方法可以实现在系统高负荷情况下,测试模块是否能够正常运行,从而达到测试模块的目的。
搜索关键词: 一种 嵌入式 模块 并发 测试 方法 系统
【主权项】:
一种嵌入式模块并发测试的方法,其特征在于,包括步骤:S101、对两个以上的待测试模块设置模块信息,将已设置的待测试模块组成待测试列表;所述模块信息具体为模块号、测试模块类型、模块初始化函数指针,模块测试执行函数指针、模块清理函数指针、并发结束条件、模块测试结果及优先级;S102、从所述待测试列表中提取每个待测试模块置于单独的线程中,并根据预设的初始化内容对所述每个待测试模块及所述线程进行初始化;所述预设的初始化内容包括:并发启动前设置线程的优先级和待测试模块并发次数或者待测试模块并发时间;S103、在步骤S102初始化后,并发启动线程来执行模块测试执行函数并返回模块测试结果;S104、统计所述模块测试结果并判断所述模块测试结果是否出现错误;步骤S104中判断所述模块测试结果是否出现错误具体为:通过函数调用待测试模块的底层驱动应用程序接口返回结果,判断返回值或出口参数是否在预期阀值内,若不在预期阀值内,返回错误;S105、若所述模块测试结果出现错误,将所述模块测试结果存储至预设的错误日志文件。
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