[发明专利]一种嵌入式模块并发测试的方法及系统有效
申请号: | 201410436320.1 | 申请日: | 2014-08-29 |
公开(公告)号: | CN104216829B | 公开(公告)日: | 2017-09-19 |
发明(设计)人: | 林伟 | 申请(专利权)人: | 福建联迪商用设备有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 福州市博深专利事务所(普通合伙)35214 | 代理人: | 林志峥 |
地址: | 350003 福建省福州*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 嵌入式 模块 并发 测试 方法 系统 | ||
技术领域
本发明涉及软件测试领域,尤其是一种嵌入式模块并发测试的方法及系统。
背景技术
由于嵌入式产品模块较多且与系统集成度较高,模块在系统资源(如串口,USB等)的使用上可能存在冲突,同时在系统高负荷情况下,一些模块可能由于无法正常获取到系统资源而导致无法正常运行。
多个模块同时运行时对系统的负载较大,因此在并发执行时可能导致其他模块或系统的运行异常。传统的嵌入式模块并发测试,通过为每个模块编写并发测试脚本,并将脚本嵌入到并发流程中,一旦有新增模块或模块有变动需要修改并发策略,则需要对并发流程进行修改,同时对于进行并发的模块也无法实现灵活配置的需求。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:提供一种嵌入式模块并发测试的方法及系统,通过对模块与模块之间或模块与系统之间是否相互影响的检测,实现对模块的合理系统资源配置。
为了解决上述技术问题,本发明采用的技术方案为:
一种嵌入式模块并发测试的方法,包括:
S101、对两个以上的待测试模块设置模块信息,将已设置的待测试模块组成待测试列表;
S102、从所述待测试列表中提取每个待测试模块置于单独的线程中,并根据预设的初始化内容对所述每个待测试模块及所述线程进行初始化;
S103、在步骤S102初始化后,并发启动线程来执行模块测试函数并返回模块测试结果;
S104、统计所述模块测试结果并判断所述模块测试结果是否出现错误;
S105、若所述模块测试结果出现错误,将所述模块测试结果存储至预设的错误日志文件。
本发明采用的另一技术方案为:
一种嵌入式模块并发测试的系统,包括依次连接的赋值模块、初始化模块、启动模块、统计模块和存储模块;
所述赋值模块,用于对两个以上的待测试模块设置模块信息,将已设置的待测试模块组成待测试列表;
所述初始化模块,用于从所述待测试列表中提取每个待测试模块置于单独的线程中,并根据预设的初始化内容对所述每个待测试模块及所述线程进行初始化;
所述启动模块,用于在所述待测试模块及所述线程初始化后,并发启动线程来执行模块测试函数并返回模块测试结果;
所述统计模块,用于统计所述测试结果并判断所述测试结果是否出现错误;
所述存储模块,用于若所述测试结果出现错误,存储至预设的错误日志文件。
本发明的有益效果在于:对模块测试程序的编写者来说只需要专注于单个待测试模块的测试流程和并发条件的设置等,无需处理并发流程具体的实现细节,提高了测试程序的编写效率同时也在一定程度上避免了新模引入或测试策略或条件修改时可能对整个测试流程造成的影响,通过对每个待测试模块进行设置模块信息就可以灵活的配置并发策略、并发数和并发优先级,由于将待模块测试置于线程中并发执行,可以使各模块在同一时间充分利用系统资源,增加系统的负荷,使模块与模块之间以及模块与系统之间的影响问题更容易暴露出来,达到模块进行测试的目的。
附图说明
图1为本发明具体实施方式中嵌入式模块并发测试的方法的流程图;
图2为本发明具体实施方式中嵌入式模块并发测试的系统结构示意图;
标号说明:
10、赋值模块;20、初始化模块;30、启动模块;40、统计模块;50、存储模块。
具体实施方式
为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果,以下结合实施方式并配合附图予以说明。
本发明最关键的构思在于:通过将每个待测试模块置于单独的线程中,并发启动线程来执行模块测试函数,实现在系统高负荷情况下,测试模块是否能够正常运行。
请参照图1,为本发明具体实施方式中嵌入式模块并发测试的方法的流程图,具体如下:
一种嵌入式模块并发测试的方法,包括:
S101、对两个以上的待测试模块设置模块信息,将已设置的待测试模块组成待测试列表;
S102、从所述待测试列表中提取每个待测试模块置于单独的线程中,并根据预设的初始化内容对所述每个待测试模块及所述线程进行初始化;
S103、在步骤S102初始化后,并发启动线程来执行模块测试函数并返回模块测试结果;
S104、统计所述模块测试结果并判断所述模块测试结果是否出现错误;
S105、若所述模块测试结果出现错误,将所述模块测试结果存储至预设的错误日志文件。
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