[发明专利]芯片逻辑地址到物理地址的转换方法和装置在审
| 申请号： | 201410425355.5 | 申请日： | 2014-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN104156325A | 公开（公告）日： | 2014-11-19 |
| 发明（设计）人： | 黄红伟;刘抒;金小英;夏兰;廖炳隆 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G06F12/10 | 分类号： | G06F12/10 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 潘彦君;骆苏华 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种芯片逻辑地址到物理地址的转换方法和装置，其中，方法包括：在芯片上选取失效区域；破坏失效区域；检测失效区域，获取失效区域中失效位存储单元的逻辑地址；根据预设的逻辑地址到物理地址的转换关系，得到失效位存储单元的逻辑地址对应的理论物理地址；对芯片作物理失效分析，将失效位存储单元的理论物理地址与失效区域的实际位置进行比较，得到理论物理地址到实际位置的偏移值；根据偏移值，得到芯片的逻辑地址到物理地址的转换关系。通过所述方法和装置，可以解决现有技术中逻辑地址到实际物理地址效率低下以及存在转换出错的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 逻辑 地址 物理地址 转换 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种芯片逻辑地址到物理地址的转换方法，其特征在于，包括：在所述芯片上选取失效区域；破坏所述失效区域；检测所述失效区域，获取所述失效区域中失效位存储单元的逻辑地址；根据预设的逻辑地址到物理地址的转换关系，得到所述失效位存储单元的逻辑地址对应的理论物理地址；对所述芯片作物理失效分析，将所述失效位存储单元的理论物理地址与所述失效区域的实际位置进行比较，得到理论物理地址到实际位置的偏移值；根据所述偏移值，得到所述芯片的逻辑地址到物理地址的转换关系。
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