[发明专利]基于支持向量机的X射线荧光光谱分析方法及装置在审
| 申请号： | 201410406583.8 | 申请日： | 2014-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN104198512A | 公开（公告）日： | 2014-12-10 |
| 发明（设计）人： | 陆安祥;王纪华;田晓琴;付海龙;李芳 | 申请（专利权）人： | 北京农业质量标准与检测技术研究中心 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 李相雨 |
| 地址： | 100097 北京市海淀区曙*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于支持向量机的X射线荧光光谱分析方法及装置，其中，所述方法包括：采集训练集样品的X射线荧光光谱，提取所述荧光光谱上若干个数据点强度值；测定所述训练集样品的目标元素的含量；将所述强度值作为输入层数据，将所述目标元素的含量作为输出层数据，建立支持向量机的预测模型；采用遗传算法对所述预测模型进行训练，确定X射线荧光光谱分析目标元素的支持向量机模型的参数；采集预测集样品的X射线荧光光谱上若干个数据点强度值为所述X射线荧光光谱分析目标元素的支持向量机模型的输入层数据，得到所述预测集样品的对应目标元素的含量。通过上述的方法能够有效的获取模型参数，获得良好的预测效果。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 支持 向量 射线 荧光 光谱分析 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种基于支持向量机的X射线荧光光谱分析方法，其特征在于，包括：采集训练集样品的X射线荧光光谱，提取所述荧光光谱上若干个数据点强度值；测定所述训练集样品的目标元素的含量；将所述强度值作为输入层数据，将所述目标元素的含量作为输出层数据，建立支持向量机的预测模型；采用遗传算法对所述预测模型进行训练，确定X射线荧光光谱分析目标元素的支持向量机模型的参数；采集预测集样品的X射线荧光光谱上若干个数据点强度值为所述X射线荧光光谱分析目标元素的支持向量机模型的输入层数据，得到所述预测集样品的对应目标元素的含量。
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