[发明专利]一种星载索网可展开天线形面精度测量方法有效

专利信息
申请号: 201410404767.0 申请日: 2014-08-15
公开(公告)号: CN104748714B 公开(公告)日: 2017-06-06
发明(设计)人: 杨东武;高扬;段宝岩 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20
代理公司: 西安吉盛专利代理有限责任公司61108 代理人: 邱志贤
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种星载索网可展开天线形面精度测量方法,具体包括如下步骤天线测量前准备工作,拍摄照片,导入测量装置计算测量点坐标,坐标转换,曲面拟合,计算天线形面精度。本发明的测量方法测量效率高、速度快,对于索网式可展开天线一次测量时间约为一个小时;设备简便易于拆装,前期准备工作耗费时间少;非接触式测量,测量过程中不需要直接接触天线反射面;测量稳定性好,本发明方法不易受到环境因素干扰;测量精度高,最大测量误差为0.2mm,完全可以满足可展开天线的测量要求;测量成本与其他测量方法相比较低。
搜索关键词: 一种 星载索网可 展开 天线 精度 测量方法
【主权项】:
一种星载索网可展开天线形面精度测量方法,依次包括如下步骤:步骤1)在可展开天线表面均匀布置编码点,编码点数量大于4个;步骤2)在可展开天线表面每一个节点处布置标志点;步骤3)在天线周围放置两根测量标尺,且两测量标尺非平行放置;步骤4)调整数码相机参数;步骤5)手持数码相机绕天线一周对可展开天线进行拍摄,拍摄照片时前一张照片与后一张照片有公共的编码点;步骤6)将照片导入摄影测量装置,解算出每个标志点和编码点的三维坐标;步骤7)将测量得到的每个标志点和编码点的离散点坐标进行处理转化为计算用新坐标;步骤8)对转换后的新坐标采用最小二乘法拟合算出天线的最佳吻合抛物面;步骤9)根据最佳吻合抛物面可求得每一个标志点和编码点即测量点处的位移误差,计算出天线的形面精度,计算公式如下:其中δ为每一个测量点的位移误差,i为测量点的编号,m为测量点的数目。
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