[发明专利]一种用于测试终端设备按键寿命的实验装置在审
申请号: | 201410401987.8 | 申请日: | 2014-08-15 |
公开(公告)号: | CN104849159A | 公开(公告)日: | 2015-08-19 |
发明(设计)人: | 于龙江 | 申请(专利权)人: | 北京佳讯飞鸿电气股份有限公司 |
主分类号: | G01N3/38 | 分类号: | G01N3/38 |
代理公司: | 北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381 | 代理人: | 陈曦 |
地址: | 100095 北京市海淀区北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于测试终端设备按键寿命的实验装置,包括:控制单元、键盘、LCD显示屏、驱动单元和电磁击打单元。其中,将被测设备放置在电磁击打单元正下方,利用键盘设置击打次数并由LCD显示屏显示;控制单元根据击打次数产生脉冲波,脉冲波经过驱动单元进行放大,为电磁击打单元供电;电磁击打单元击打被测设备的屏幕。本发明由于采用了电磁击打单元,不使用电机与复杂的机械传动装置,具有体积小巧、噪音小、成本低廉等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 测试 终端设备 按键 寿命 实验 装置 | ||
【主权项】:
一种用于测试终端设备按键寿命的实验装置,包括控制单元、键盘、LCD显示屏、驱动单元和电磁击打单元,其特征在于:将被测设备放置在所述电磁击打单元正下方,利用所述键盘设置击打次数并由所述LCD显示屏显示;所述控制单元根据所述击打次数产生脉冲波,所述脉冲波经过所述驱动单元进行放大,为所述电磁击打单元供电;所述电磁击打单元击打所述被测设备的屏幕。
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