[发明专利]基于矢量网络分析仪的二端口网络相移测试方法有效
| 申请号： | 201410386556.9 | 申请日： | 2014-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN104181392A | 公开（公告）日： | 2014-12-03 |
| 发明（设计）人： | 胡江;苏鹏;延波;徐锐敏 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R25/00 | 分类号： | G01R25/00 |
| 代理公司： | 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 | 代理人： | 周永宏 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于矢量网络分析仪的二端口网络相移测试方法，本发明的方法基于矢量网络分析仪的测试值，结合基础的理论对测试数据进行处理，进而求得准确的相移值，完成了准确测试二端口网络插入相移θI的测试任务；解决了矢量网络分析仪无法准确测试二端口网络插入相移的问题，简单易行，能够广泛应用于等效为二端口网络的微波元器件测试过程中。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 矢量 网络分析 端口 网络 相移 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种基于矢量网络分析仪的二端口网络相移测试方法，具体为：在矢量网络分析仪的相移测试曲线上，找到两个相邻的零相位点M和N，对应的相移值分别设其位于为第n个2π的相移周期与第n+1个2π的相移周期，相应的频率为fn与fn+1，则有如下关系式：nfn≈n+1fn+1]]>其中，fn与fn+1由测试曲线读出，进而求得n值；对于频率位于两相位零点M、N之间的点P的实际相移值θI可根据以下公式求得：θI＝2nπ+θIO其中，θIO表示相移量，由矢量网络分析仪读出。
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