[发明专利]抑制双间隙耦合腔2π模振荡的吸收腔装置及其调试方法有效

专利信息
申请号: 201410379750.4 申请日: 2014-08-04
公开(公告)号: CN104134596A 公开(公告)日: 2014-11-05
发明(设计)人: 沈斌;丁耀根;顾红红;丁海兵;曹静 申请(专利权)人: 中国科学院电子学研究所
主分类号: H01J23/213 分类号: H01J23/213
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 曹玲柱
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种抑制双间隙耦合腔内2π模振荡的吸收腔装置。高吸收腔装置的双调谐吸收腔同时谐振于TM110模式和TM210模式,并通过耦合波导连接至双间隙耦合腔,能够有效地抑制双间隙耦合腔输出电路中具有2π模场形分布的两个非工作模式的振荡,消除由该类振荡引起的多注速调管的不稳定性,降低杂谱电平。
搜索关键词: 抑制 间隙 耦合 振荡 吸收 装置 及其 调试 方法
【主权项】:
一种抑制双间隙耦合腔2π模振荡的吸收腔装置,其特征在于,包括:双调谐吸收腔(110),为中空矩形封闭谐振腔,其第一端封闭,其内侧腔壁至少部分面积具有微波衰减材料;矩形耦合波导(120),连接于所述双调谐吸收腔(110)的第二端和所述双间隙耦合腔(200)之间,正对所述双间隙耦合腔(200)一侧的耦合槽,用于所述双调谐吸收腔(110)和双间隙耦合腔(200)之间的模式耦合;其中,所述双调谐吸收腔(110)上方开设两个螺孔,通过该两个螺孔,分别向所述双调谐吸收腔(110)内垂直向下插入第一调谐螺钉(114)和第二调谐螺钉(115),其中,该两个螺孔均位于所述双调谐吸收腔(110)宽边的中心,使该双调谐吸收腔(110)同时谐振于TM110模式和TM210模式。
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