[发明专利]一种紫外光通信发射端机可见光抑制比测试方法在审

专利信息
申请号: 201410363300.6 申请日: 2014-07-28
公开(公告)号: CN104135319A 公开(公告)日: 2014-11-05
发明(设计)人: 孙权社;王少水;朱兴邦;王国权;赵发财;郑祥亮;韩忠 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: H04B10/07 分类号: H04B10/07;G01J3/28
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 龚燮英
地址: 266555 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明提供一种紫外光通信发射端机可见光抑制比测试方法,步骤1:驱动待测发射机发射调制信号,利用经过校准的紫外光谱仪扫描调制信号在220nm~780nm范围内的光谱辐射能量分布;步骤2:通过积分方法计算分别求得380nm~780nm可见光段的光谱辐射能量和220nm~780nm整个谱段的全部光谱总辐射能量;步骤3:计算可见光抑制比步骤4:通过对辐射面多个位置进行测量求出各个测量点的可见光抑制比平均值。采用上述方案,校准后的紫外光谱仪可用来测量光源的相对光谱功率,为得到光源的各波段能量分布,本发明采用分部积分求面积的方法,计算各波段的辐射能量。
搜索关键词: 一种 紫外 光通信 发射 可见光 抑制 测试 方法
【主权项】:
一种紫外光通信发射端机可见光抑制比测试方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:驱动待测发射机发射调制信号,利用校准后的紫外光谱仪对调制信号220nm~780nm波段光谱进行扫描,得到220nm~380nm紫外波段和380nm~780nm可见光波段的辐射能量分布;步骤2:通过积分方法计算分别求得380nm~780nm可见光段的光谱辐射能量和220nm~780nm整个谱段的全部光谱总辐射能量;步骤3:计算可见光抑制比其中,可见光段的光谱的范围为380nm~780nm的光;整个谱段的全部光谱的范围为220nm~780nm;步骤4:通过对辐射面多个位置进行测量求出各个测量点的可见光抑制比平均值。
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