[发明专利]基于滤波膜阵列的光谱测量装置及方法有效
| 申请号： | 201410357523.1 | 申请日： | 2014-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN104142178A | 公开（公告）日： | 2014-11-12 |
| 发明（设计）人： | 杨涛;许超;黄维;周馨慧;李兴鳌;刘亚丽;何浩培;严怀成 | 申请（专利权）人： | 南京邮电大学 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 杨楠 |
| 地址： | 210023 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于滤波膜阵列的光谱测量装置，包括沿入射光传播方向依次设置的光学准直装置、滤波膜阵列、探测阵列芯片；所述滤波膜阵列包括一组平行且在入射光方向上互不重叠的滤波膜，各滤波膜在所述探测阵列芯片的测量波段范围内的透射谱线互不相同；所述滤波膜阵列中的每一片滤波膜均有至少一个所述探测阵列芯片的像素元与其正对。本发明还公开了使用上述光谱测量装置的光谱测量方法。相比现有技术，本发明易于制作，成本低廉，利于实现批量生产。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 滤波 阵列 光谱 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
基于滤波膜阵列的光谱测量装置，其特征在于，包括沿入射光传播方向依次设置的光学准直装置、滤波膜阵列、探测阵列芯片；所述滤波膜阵列包括一组平行且在入射光方向上互不重叠的滤波膜，各滤波膜在所述探测阵列芯片的测量波段范围内的透射谱线互不相同；所述滤波膜阵列中的每一片滤波膜均有至少一个所述探测阵列芯片的像素元与其正对。
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