[发明专利]一种用于文字压痕的三维显现方法在审

专利信息
申请号: 201410349840.9 申请日: 2014-07-22
公开(公告)号: CN104101310A 公开(公告)日: 2014-10-15
发明(设计)人: 岳慧敏;吴雨祥;赵必玉;张博;易京亚;李明阳;刘永 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 成都华典专利事务所(普通合伙) 51223 代理人: 徐丰
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供了一种用于文字压痕的三维显现方法,该方法将相位测量轮廓术用于文件隐藏印压痕迹的显现测量中。基于相位测量轮廓术的物体表面三维面形测量方法是一种高精度、快速、非接触、非相干的光学全场测量技术,并且实验装置简单,主要包括计算机、数码相机和投影仪。将相位测量轮廓术用于文字压痕显现测量中可以直接得到待测表面的高度分布,从而定量的获得待测表面的文字痕迹,利用得到的高度数据可以识别待测表面的潜在文字,同时也可以根据字体的形状以及字体不同位置的深浅进行字迹比对检测,从而判定文字的写作者,在司法鉴定上有重要应用。本发明的主要增益:提供了一种高精度、快速、全场的文字压痕的测量方法。
搜索关键词: 一种 用于 文字 压痕 三维 显现 方法
【主权项】:
一种用于文字压痕的三维显现方法,包括以下几个步骤:步骤1、向待测表面上投影条纹,然后采集待测表面上的变形条纹图,待测表面的高度信息将被调制在变形条纹的相位中;步骤2、对采集到的变形条纹的光强图的相位信息进行分析解调,得到变形条纹的相位分布;步骤3、解调到的相位是不连续的,需将其进行相位展开;步骤4、得到展开相位后,通过相位测量轮廓术的相位高度关系获得待测表面的高度信息,然后即可对表面上的文字压痕进行文字识别和字迹鉴定。
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