[发明专利]用于试验样品的压缩试验的设备、系统和方法有效
| 申请号： | 201410336095.4 | 申请日： | 2014-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN104297059B | 公开（公告）日： | 2019-04-19 |
| 发明（设计）人： | M·U·凯斯马顿;K·H·格里斯 | 申请（专利权）人： | 波音公司 |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 赵蓉民;董巍 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于压缩试验的设备(30)。设备(30)具有带有端部载荷元件(74)的基座组件(60)，端部载荷元件(74)被附接至基座组件(60)，基座组件(60)是刚性的。设备(30)具有支撑组件(32)，支撑组件(32)被附接至基座组件(60)并且具有多个窗口部分(44)。设备(30)具有被安装在支撑组件(32)内的芯组件(46)，芯组件(46)是可压碎的，并且被配置为保护支撑组件(32)和基座组件(60)免于压缩试验期间产生的破裂载荷(53)的破坏。基座组件(60)、支撑组件(32)和芯组件(46)共同形成用于具有缺口部分(82)的试验样品(80)的压缩试验的设备(30)。设备(30)被配置为用于与光学应变测量系统(120)一起使用。当试验样品(80)被安装在支撑组件(32)中时，试验样品(80)和缺口部分(82)通过多个窗口部分(44)对光学应变测量系统(120)是可见的。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 试验 样品 压缩 设备 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于试验样品(80)的压缩试验的设备(30)，该试验样品(80)具有缺口部分(82)，所述设备(30)被配置为与光学应变测量系统一起使用，所述设备(30)包含：基座组件(60)，其具有端部载荷元件(74)，所述端部载荷元件(74)被附接至所述基座组件(60)，所述基座组件(60)是刚性的；支撑组件(32)，其被附接至所述基座组件(60)，所述支撑组件(32)具有多个窗口部分(44)；以及，芯组件(46)，其被安装在所述支撑组件(32)内，所述芯组件(46)是可压碎的，并且被配置为在压缩试验期间当位于邻近所述芯组件(46)的所述试验样品(80)破裂或断裂时保护所述支撑组件(32)和所述基座组件(60)免于由所述试验样品(80)产生的破裂载荷(53)的破坏；其中当所述试验样品(80)被安装在所述支撑组件(32)中时，所述试验样品(80)和所述缺口部分(82)通过所述多个窗口部分(44)对所述光学应变测量系统(120)而言是可见的。
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