[发明专利]用于试验样品的压缩试验的设备、系统和方法有效

专利信息
申请号: 201410336095.4 申请日: 2014-07-15
公开(公告)号: CN104297059B 公开(公告)日: 2019-04-19
发明(设计)人: M·U·凯斯马顿;K·H·格里斯 申请(专利权)人: 波音公司
主分类号: G01N3/08 分类号: G01N3/08
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 赵蓉民;董巍
地址: 美国伊*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 试验 样品 压缩 设备 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种用于试验样品(80)的压缩试验的设备(30),该试验样品(80)具有缺口部分(82),所述设备(30)被配置为与光学应变测量系统一起使用,所述设备(30)包含:

基座组件(60),其具有端部载荷元件(74),所述端部载荷元件(74)被附接至所述基座组件(60),所述基座组件(60)是刚性的;

支撑组件(32),其被附接至所述基座组件(60),所述支撑组件(32)具有多个窗口部分(44);以及,

芯组件(46),其被安装在所述支撑组件(32)内,所述芯组件(46)是可压碎的,并且被配置为在压缩试验期间当位于邻近所述芯组件(46)的所述试验样品(80)破裂或断裂时保护所述支撑组件(32)和所述基座组件(60)免于由所述试验样品(80)产生的破裂载荷(53)的破坏;

其中当所述试验样品(80)被安装在所述支撑组件(32)中时,所述试验样品(80)和所述缺口部分(82)通过所述多个窗口部分(44)对所述光学应变测量系统(120)而言是可见的。

2.根据权利要求1所述的设备(30),其中所述支撑组件(32)包含第一支撑格栅(34a),其被配置为用于附接到第二支撑格栅(34b),所述芯组件(46)和所述试验样品(80)被安装在所述第一支撑格栅(34a)与所述第二支撑格栅(34b)之间。

3.根据权利要求2所述的设备(30),其中所述第一支撑格栅(34a)和所述第二支撑格栅(34b)均包含框架部分(36)、多个竖直构件(40)和多个水平构件(42),所述多个竖直构件(40)和水平构件(42)形成所述多个窗口部分(44)。

4.根据权利要求1所述的设备(30),其中所述芯组件(46)包含多个竖直芯元件(48),每个竖直芯元件(48)包含蜂窝夹层芯组件(47)。

5.根据权利要求1所述的设备(30),其中所述芯组件(46)具有压碎区(50),当所述试验样品(80)被安装在所述支撑组件(32)中时,所述压碎区(50)对应于所述试验样品(80)中的所述缺口部分(82)的位置。

6.根据权利要求1所述的设备(30),其还包含第一夹持夹具(56a)和第二夹持夹具(56b),所述第一夹持夹具(56a)被联接至所述基座组件(60),并且被配置为当所述试验样品(80)被安装在所述支撑组件(32)中时保持所述试验样品(80)的第一端(85a),而所述第二夹持夹具(56b)被附接至所述试验样品(80)的第二端(85b),并且被配置为跨越所述试验样品(80)的所述第二端(85b)施加压力载荷(59)。

7.根据权利要求1所述的设备(30),其中所述端部载荷元件(74)包含端部载荷磨损条(74a),所述端部载荷磨损条(74a)是可移除的、可更换的,并且被配置为在压缩试验期间保护所述基座组件(60)。

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