[发明专利]用于磁力计校准和补偿的系统和方法在审
| 申请号： | 201410334942.3 | 申请日： | 2014-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN104296776A | 公开（公告）日： | 2015-01-21 |
| 发明（设计）人： | M.R.埃尔格斯马;V.L.贝奇什瓦;R.D.克雷肖夫 | 申请（专利权）人： | 霍尼韦尔国际公司 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 张凌苗;刘春元 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本文公开了用于磁力计校准和补偿的系统和方法。系统包括：惯性测量单元，其包括配置成测量绕着三个独立轴中的相应轴的角速度的一个或多个陀螺仪，和配置成测量沿着三个独立轴中的相应轴的比力的一个或多个加速度计；磁力计，其配置成测量沿着三个独立轴中的每个的局部磁场的强度；以及处理设备，其耦合到惯性测量单元和磁力计；处理设备配置成基于从磁力计和惯性测量单元接收的测量来计算系统的运动状态数据。处理设备还配置成当位置数据是不可用的时使用第一技术计算磁力计测量校准参数，且当位置数据是可用的时使用第二技术计算磁力计测量校准参数。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 磁力计 校准 补偿 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种系统（100），包括：惯性测量单元（104），其包括配置成测量绕着三个独立轴中的相应轴的角速度的一个或多个陀螺仪（108），和配置成测量沿着所述三个独立轴中的相应轴的比力的一个或多个加速度计（110）；磁力计（102），其配置成测量沿着所述三个独立轴中的每个的局部磁场的强度；以及处理设备（106），其耦合到所述惯性测量单元和所述磁力计；所述处理设备配置成基于从所述磁力计和所述惯性测量单元接收的测量来计算所述系统的运动状态数据；其中所述处理设备还配置成当位置数据是不可用的时使用第一技术计算磁力计测量校准参数，且当位置数据是可用的时使用第二技术计算磁力计测量校准参数。
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