[发明专利]基于密度梯度透光率法测试晶体密度连续分布的方法有效
申请号: | 201410327882.2 | 申请日: | 2014-07-10 |
公开(公告)号: | CN104089851A | 公开(公告)日: | 2014-10-08 |
发明(设计)人: | 张浩斌;刘渝;康彬;孙杰;姜燕;徐瑞娟;徐金江;刘晓峰 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院化工材料研究所 |
主分类号: | G01N9/24 | 分类号: | G01N9/24 |
代理公司: | 四川省成都市天策商标专利事务所 51213 | 代理人: | 伍孝慈 |
地址: | 621000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种快速测定含能材料晶体密度连续分布的方法。通过利用密度梯度管使晶体样品按照密度的差异在密度梯度管不同的位置自然沉降并稳定,再通过标准密度浮子标定和校正不同高度的液体密度,然后利用安装在密度梯度管两侧的光源发生器和光源探测器上下同步扫描和数据采集,根据不同高度和区域的光强差异,计算出透光率和高度的关系曲线,进而准确的计算出晶体样品的密度连续分布曲线。以此判定不同晶体样品的密度分布情况。本发明的方法可以快速测定类似含能材料晶体密度的连续分布,定量表征各密度梯度下的样品数量,实现对晶体颗粒密度分布的定量测试。 | ||
搜索关键词: | 基于 密度 梯度 透光率 测试 晶体 连续 分布 方法 | ||
【主权项】:
一种基于密度梯度透光率法测试晶体密度连续分布的方法,其特征在于包含如下步骤:A、配制浓度不同且连续分布的与待测晶体种类相同的晶体样品,分别测定不同浓度的晶体样品的可见光透光率,得到晶体样品的透光率‑浓度曲线,根据晶体样品的体积将透光率‑浓度曲线转化为透光率‑质量含量曲线;B、配制密度连续且呈上轻下重均匀分布的密度梯度柱;C、称取待测晶体样品,将其缓慢加入密度梯度柱的上表面,使其自然下沉至稳定停止在密度梯度柱中与其密度相等的位置;D、向密度梯度柱投入密度均匀间隔分布的玻璃浮子,待其自然下沉至稳定停止在密度梯度柱中与其密度相等的位置;E、在密度梯度柱的前后两个视窗分别安装光源和光强接收装置,打开光源使其光线透过密度梯度柱后被光强接收装置接收,测定密度梯度柱不同高度的透光率,从而得到待测晶体样品在密度梯度柱中的透光率‑高度曲线;利用玻璃浮子对光线吸收所产生的特征信号,以每颗玻璃浮子产生吸收的中间位置为其高度对密度梯度柱不同高度的密度进行标定,得到密度梯度柱的密度‑高度曲线;F、将步骤A的透光率‑质量含量曲线和步骤E的透光率‑高度曲线转化为待测晶体样品的质量含量‑高度曲线;G、将步骤E的密度‑高度曲线与步骤F的质量含量‑高度曲线转化为质量含量‑密度曲线,即为待测晶体样品的密度连续分布曲线。
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