[发明专利]用于测量测试气体中的气体成分的浓度的方法有效
| 申请号： | 201410324283.5 | 申请日： | 2014-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN104280361B | 公开（公告）日： | 2017-04-12 |
| 发明（设计）人： | 丹尼尔·德彭霍伊尔;克里斯托弗·沃尔夫冈·马夸特 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01N21/39 | 分类号： | G01N21/39 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人： | 余刚,李慧 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量测试气体中的气体成分的浓度的方法，为测量该浓度周期性地利用电流斜坡(23)调控半导体激光器，以便根据波长扫描所选择的吸收线(27)，并借助通过在吸收线(27)处吸收光使光强度降低来确定气体成分的浓度。在电流斜坡(23)之前的第一阶段(24)中利用与电流斜坡(23)的起始值相等的恒定电流(I1)和/或在电流斜坡(23)之后的第二阶段(25)中利用与电流斜坡(23)的终值相等的恒定电流(I2)调控半导体激光器。在预定数量(N)的多个电流斜坡(23)之后在第三阶段(26)期间无电流地连接半导体激光器。在吸收线(27)处探测到的光强度利用最后分别在第一和/或第二和在第三阶段(24，25，26)中探测到的光强度标准化。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 测试 气体 中的 成分 浓度 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测量测试气体(1)中的气体成分的浓度的方法，所述方法如下实现，即波长可调谐的半导体激光器(3)的光(4)的强度在透射所述测试气体(1)之后是能探测的，并且借助通过在所述气体成分的所选择的吸收线(27)处吸收所述光(4)使光强度降低来确定所述气体成分的所述浓度，其中‑周期性地利用电流斜坡(23)调控所述半导体激光器(3)，以便根据波长扫描所述气体成分的所述吸收线(27)，‑在紧邻具有第一电流信号的所述电流斜坡(23)之前的第一阶段(24)中和/或在紧邻具有第二电流信号的所述电流斜坡(23)之后的第二阶段(25)中调控所述半导体激光器(3)，并且‑利用在所述第一阶段(24)和/或所述第二阶段(25)中探测到的光强度将在所述吸收线(27)处探测到的光强度标准化，其特征在于，‑所述第一电流信号由等于所述电流斜坡(23)的起始值的恒定电流(I1)构成，‑所述第二电流信号由等于所述电流斜坡(23)的终值的恒定电流(I2)构成，‑在预定数量(N)的多个所述电流斜坡(23)之后，在第三阶段(26)期间无电流地连接所述半导体激光器(3)，并且‑为了使在所述吸收线(27)处探测到的所述光强度标准化，使用最后分别在所述第一阶段(24)和/或所述第二阶段(25)和在所述第三阶段(26)中探测到的光强度。
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